使用快速阶段及其EDS、WDS和Micro-XRF分析益惠的大片SEM映射

使用SEM大面积映射可能因标准SEM级慢移动而阻塞。此外,由于电子波束变化和样本分析期间交互作用,还存在低放大度潜在的X射线信号强度人工制品这一点特别相关WDS系统分析中也可以观察BSE图像或EDS系统元素强度映射

网络研讨会展示新手性能快速阶段专为SEMs设计大面积映射这会消除与低放大映射相关的潜在SEMX射线强度变化人工品,从而及时增强原不可能实现的元素和矿物信息。微xRF.我们举例子明确突出分析问题和快速阶段解决之道15分钟会议结束 专家解答问题

• 每个人处理程序需要大概或分析样本
• 业界和学术界调查地质样本的研究人员