TRACER:手持xRF文化遗产基准

即时会议-54分钟

美保Webinar系列-第三部分

布鲁克寻宝器handdraft-XRF是文化遗产研究元素分析的移动分析工具上头TRACER5最新Bruker数列 积极使用全世界各地远比前期模型大有进步,前期模型技术改进驱动突出元素敏感度改善处理并增强软件集成提供高级分析工具设计灵活使用和应用工具时,工具可全手操作台站或三叉车安装实验室、画廊或现场使用灵活性扩展至分析模式,并有能力完全交互模式操作,不同对象的原光谱可用BrukerARTAX软件平台侦听适当时,该模式可扩展至工厂专用矩阵匹配实证标定或用户开发定制标定能力

网络研讨会将向诸位介绍TRACER平台基础知识,包括关键硬件特征和软件操作,将TRACER定位为科学家和其他文化遗产专业人员可移植元素分析的基准解决方案我们还将介绍Bruker实证工厂标定图,包括专为这些标定手持式XRF考古学和博物馆研究分析方法(如EasyCal计算机平台)允许用户定制特定分析标度webNars将深入了解世界各地文化遗产对象分析专家目前如何使用TRACER5

何人应注意

  • 研究者、专业人员和学生文化遗产分析
  • 考古学或艺术科学家现场工作文化遗产
  • 有兴趣扩展对XRF分析总体内容理解者

讲演者

博士奈杰尔凯利

高级市场应用科学家Bruker Nano分析

安德鲁李

应用科学家Bruker Nano分析