単結晶x線回折&小角x線散乱
metaljetは実験室系x線源の中で最も高輝度なx線を発生します。
タンパク質X線回折(PX)と小角X線散乱(粉煤灰)測定を最適化するために,この最も強力なX線源の両サイドを有効活用することができます。
単結晶X線回折には,METALJETと光子II / III検出器を備えたD8风险が放射光品質のデータに迫る実験室システムを提供します。
生体用小角X線散乱(Bio-SAXS)には,コンパクトで高性能なNANOSTARシステムが,結晶学,核磁共振,分子動力学などの他の技術からの構造データと定量的に結び付けられた一枝データ解析に対する数多くのニーズを満たすための最良のソリューションです。
デュアルポートプラットフォームは,第1ポートのみを利用することもでき,かつ簡単に機能をアップグレードする柔軟性を有します。今すぐに第2ポ,トが必要ない場合でも,将来的のニ,ズの変化に可能性を拡げます。
DIFFRAC.SUITE™は,粉末X線回折などのデータ取得と評価を簡単に行うための幅広いソフトウェアモジュールを提供します。微软。net技の術をベースにしたDIFFRAC.SUITEは,安定性,使いやすさ,ネットワーク化など,最新のソフトウェア技術のメリットをすべて備えています。
カスタマイズ可能なユーザーインターフェースは,プラグインフレームワークデザインを採用し,共通のルック&フィール,操作性を提供します。すべての測定・評価ソフトウェアモジュールは,個別のアプリケーションとして操作することも,DIFFRAC.SUITEのプラグインフレームワークに統合して使用することも可能です。無制限のネットワーキングにより,ネットワーク内にあるD2移相器、D8努力,D8进步,D8发现のあらゆる回折計へ自由にアクセスして制御することができます。
測定ソフトウェア:
向导-測定条件検討と作成
指挥官-装置制御とマニュアル測定
工具—メンテナンスaapl
粉末回折ソフトウェア:
DQUANT-各種定量分析
伊娃-結晶相定性と汎用粉末xrd解析
TOPAS—プロファ▪▪ル分析▪定量分析▪構造解析
材料解析ソフトウェア:
一枝- saxs解析ソフトウェア
XRR-包括的なxrr解析ソフトウェア
纹理-使いやすさを実現した極点図解析ソフトウェア
LEPTOS-薄膜解析、残留応力解析
以下を提供します。
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