Eiger2 r検出器シリ，ズ
ハ▪▪ラ▪▪ト
最もすぐれたxrdプラットフォ，ムに対応した次世代hpc検出器
D8 advance / D8 discoverシリ，ズ対応のeiger2 r 250kと500k検出器は，使いやすい0d / 1d / 2dマルチモ，ド検出器です。
ハイブリッドフォトンカウンティング(HPC)検出器は,多くの放射光施設での高い実績を誇るDECTRISの革新的な第2世代艾格尔峰技術をベースにしています。75 x 75 μ m2像素以上の広い検出領域と精細な分解能で，広い2次元範囲を余すことなく記録します。2つのエネルギーしきい値と広いダイナミックレンジにより、微弱な回折信号から強い信号まで正確な記録を可能にします。DIFFRAC.SUITEソフトウェアアーキテクチャへのEIGER2の完全かつ有機的に統合され、人間工学デザインを採用した検出器マウントや専用アクセサリーにより、Brukerはパワフルで使いやすいXRDソリューションを実現しました。
eiger2検出器シリ，ズは粉末回折から材料研究にいたるまで，幅広い測定方法に対応します。EIGER2はいわゆる多目的検出器の機能にとどまらず,すべてのアプリケーションにおいて,すぐれた結果を導き出します。
新しいEIGER2 R 250 k検出器は,等方的な検出領域と25万画素以上のピクセルを備え,粉末X線回折や逆格子空間マップの超高速データ記録に最適です。さらに,そのすぐれたダイナミックレンジにより,強度減衰板を用いることなくHRXRD測定やXRR測定が可能です。
500000年ピクセルを有するEIGER2 R 500 kは長手方向に1000以上の素子を有し,雰囲気制御下における高速原位測定や高速二体分布関数(PDF)解析に対応した広域1 d XRD測定を実現します。加えて,一枝測定,極点図測定,微小部X線回折などの2 d XRDアプリケーションに最適な角度分解能を提供します。
特長
主な特長
利点
すぐれたメリット
マルチモ，ド検出器
eiger2検出器はdiffrac.suiteソフトウェアア，キテクチャへ有機的に統合されました。0 d, 1 d, 2 dデータ記録モードは,ステップスキャン,連続スキャンのみならず,ブルカー独自の高度な測定モードを力強くサポートします。特許技術のリアルタイム補正アルゴリズムにより,2 dスキャンデータにおいても画像歪のない最高のデータ品質が保証されます。
EIGER2はどのようなサンプルに対しても,あらゆるデータ記録アプローチを効率的にサポートし,最高の回折データを得ることができます:
- 0dモ，ド:表面ラフネスの大きいサンプルやコーティングサンプルの平行ビーム法測定,エピタキシャル薄膜の高分解能XRD
- 1dモド: Bragg-Brentano集中法における反射法や透過法を用いた粉末サンプルの高速測定,エピタキシャル薄膜の逆格子空間マップ(RSM)
- 2dモド:微量サンプル，優先配向や粗大粒サンプル，微小部マッピング，残留応力，極点図解析
かてない人間工学デザン
スナップショットモードによる高速粉末回折のために広い2θ記録領域が必要な場合も,極点図測定に広いγ記録領域が必要な場合も,一枝/蜡において回折強度を広範囲に記録したい場合も,近接ピークを分離する高分解能が必要な場合も,EIGER2検出器を利用すれば,装置構成の最適化に要する時間を大幅に短縮できます。
通用探测器+山の独創的なデザインは,検出器の搭載方向やサンプル間の距離を工具なしで変更することができ,データ品質を妥協することなく,異なるアプリケーション間での迅速な切り替えを可能にします。
- 小型·軽量デザンで，検出器搭載方向と組み合わされたアクセサリをリアルタムで認識
- フェイルセーフ機能を有する検出器マウントデザインが検出器搭載方向の迅速切り替えを実現——載せ替え後の調整不要,自動搭載方向認識,スキャンタイプの自動適合
- D8发现では100毫米から最大500毫米の範囲で検出器距離を連続可変自動認識対応——記録角度範囲と角度分解能の最適化をこれまでになく簡便化
専用光学系
EIGER2検出器のための専用設計された,検出器の全領域を活用できるパノラミック光学系は,工具を用いることなく,脱着が行えます。マグネット脱着を採用し，かリアルタムdavinci。これらのアクセサリーは,寄生散乱や0 d / 1 dモードでのアンブレラ効果などの悪影響を最小限に抑え,EIGER2の検出ソリューションを完璧に導きます。
対応アクセサリ
- パノラミックフィルタ:kβ線の除去
- パノラミック軸発散ソラー:Bragg-Brentano集中法光学系や粉末透過法配置におけるアンブレラ効果低減
- パノラミック真空パス(EFT)とビームストッパー:小角X線散乱(粉煤灰)における寄生散乱および空気散乱の抑制
アプリケ，ション
アプリケションギャラリ
仕様
Eiger2 r検出器シリ，ズ技術仕様
仕様 |
メリット |
|
有効検出面積 |
250k: 38.4 × 38.4 = 1475 mm² 500k: 77.1 x 38.4 = 2,961 mm² |
2θ/γ広域モ，ド切り替え対応 |
ピクセル数 |
250K: 512 × 512 = 262144 500K: 1028 × 512 = 526336 |
すぐれた空間分解能 |
ピクセルサ@ @ズ |
75 × 75 μm² |
カウントレ，トと分解能の最適化 電荷共有効果の抑制 |
最大カウントレ，ト |
>3.6 × 10⁸cps/mm² |
xrrやhrxrdにおける減衰板なしでの広いダナミックレンジ測定 |
ダ@ @ナミックレンジ |
> 10 39 ph/s/mm² |
最高の2dデ，タ品質を実現する高い感度 |
エネルギディスクリミネタ |
2(上限，下限可変) |
サンプル由来の蛍光x線や自然放射線を除外し，信号/ノesc escズ比を改善 |
x線検出技術 |
ハ@ @ブリッドフォトンカウンティング 第2世代艾格尔技術 |
高いカウントレトと広いダナミックレンジを実現する高速検出機構 |
対応波長 |
Cr, Co, Cu, Mo, Ag (5kev ~ 23kev) 放射光実績のダ▪▪レクトビ▪▪ム耐性 |
ひとの検出器であらゆる波長をカバ ダ▪▪レクトビ▪▪ムによる損傷はありません |
センサ，厚 |
450μm |
センサ，効率 > 99%: Cr, Co, Cu波長 50%:莫波長 30%: Ag波長 |
対応スキャンモ，ド |
0d / 1d / 2dモ，ド:ステップスキャン，連続スキャン 1d / 2dモド:スナップショットモドとアドバンストスキャンモド |
包括的で統一された0d / 1d / 2dスキャンの実装 すべてのモ，ドにおいて，2θ方向およびγ方向それぞれの柔軟なroi選択 歪みのない2dデ，タ記録アルゴリズム(特許) |
外部付帯 |
なし |
メンテナンスフリ 消耗品や外部冷却水は不要 |
アプリケ，ション |
xrr, hrxrd，結晶相定性，結晶相定量，結晶構造精密可，残留応力，極点図など |
詳細
Eiger2検出器シリ，ズリソ，ス
リ，フレットとプロダクトシ，ト
サポト
サ，ビスとサポ，ト
以下を提供します。
- 高度なスキルを持つトラブルシューティングの専門家によるヘルプデスクのサポートにより,ハードおよびソフトウェアの問題を特定して解決
- サビス診断およびアプリケションサポトのためのWebベスのリモト計測器サビス
- マジされたリアリティサポト—あなたの側の仮想エンジニア(ビデオ）
- 計画メンテナンス(要件に応じて)
- お客様の現場修理·保守サ，ビス
- スペアパ，の可用性は，通常，夜間または世界中の数営業日以内に利用可能
- 設置資格，運用資格/性能検証のためのコンプラ
- サ@ @トの計画と再配置
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