XFlash 6-100Oval
SEM.FIB-SEMU
百毫米2の楕円形SDD素子を備えたウィンドウレスEDS系统検出器は、それぞれのSEMレイアウトに合わせて注意深く最適化されています。ユニークな検出素子形状と最先端のスリムライン設計により、SEMの性能を損なうことなく、最大0.4srのX線検出立体角を実現します。
XFlash应用®6-100Oval
- ++100mm2、ウィンドウレス
- APM0.4sr
- 30kev
- 3035
- オプションの高真空対応ベローズと保護シャッター
- 非干渉冷却システム
- 検出器自動退避機能
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- ブルカーの多機能分析ソフトウェアを利用可能
XFlash应用®6-100Oval
SEM、FIB-SEM、SEM内STEM測定で以下を必要とするようなハイエンド元素分析
- 低加速電圧、電子線ダメージを受けやすい試料
- 軽元素分析
- 高い空間分解能
- 高速データ測定