電子顕微鏡用分析装置

Sem用quantax eds

XFlash®7 -新世代eds検出器

最適なアングルで理想の分析を

速く正確に確実に

ハ▪▪ラ▪▪ト

1000000年
cps
最大1,000,000 CPSの分析スル,プット
比類ない分析速度を実現
> 2200
元素ピ,ク
k, l, m, n線を網羅するデ,タベ,スを用いて複雑なデ,タを定量
> 1.1
最高のx線検出立体角
もっとも効率よくx線を検出する最適な配置で最大のスル,プットを

sem, fib-sem, epma用エネルギ,分散型x線分析装置

  • ブルカ,の新世代QUANTAX EDSはXFlash®7検出器を中心とする分析システムです。電子顕微鏡x線分析において最高の検出立体角とスル,プットを実現します。
  • XFlash®7検出器ファミリーはSEM, TEM, FIB-SEM,电子探针用エネルギー分散型X線分析における性能機能性の新基準となります。
  • XFlash®7検出器ファミリーはTEMおよびSEMでの薄膜試料のEDS分析にも最適なソリューションを提供します。独自のFlatQUAD検出器は困難なアプリケ,ションにも対応します。
  • スリムランテクノロジ,高検出立体角デザン,最新のパルスプロセッサ,予知保全によるシステムアップタ@ @ムの最大化
  • 最高のエネルギ,分解能による高品質スペクトル
  • 洗練された定量計算アルゴリズムと独自のハ@ @ブリッド定量メソッドによる高い定量精度

利点

元素分析をより効率的に

検出器ごとに最適化されたedsシステムで高精度な分析結果をより速く。比類なきスピ,ドと正確さを提供します。

最高のスル,プットにより測定時間を短縮。デタサズの制限なくマップ測定や定量分析が可能。

効率的な検出器配置で困難なアプリケ,ションに対応

最適な検出器配置による正確で信頼性の高い定量結果

優れた検出限界,低いバックグラウンド,少ない吸収により,より少量の物質を検出

ESPRIT分析ソフトウェアでEDS, WDS, EBSD, micro-XRFをシ,ムレスに統合
あらゆるsem, fib-sem, epmaに対応

アプリケ,ション

アプリケ,ション例

火山岩元素分布图

用SEM EDS确定岩浆演化

利用SEM EDS可以分析火山矿物数万年的岩浆演化过程。在几分钟内了解更多关于地质样品的历史。
高分解能sem-edsマップ

銅器時代の製錬容器のsem-eds元素分析

工芸品や文化遺産は私たの過去を解き明かします。sem-edsはその歴史をより深く理解するための手掛かりになります。
▪▪▪▪ラクサのsem-eds元素マップ

デュアルeds検出器を用いたaaplラクサの元素分析

生体試料は電子線ダメージを受けやすく,形状が複雑でX線シグナル強度も低いため,高速・非破壊分析は困難です。デュアルeds検出器はこの問題を解決します。
接合部のラ@ @ブ元素マッピング

Al-Si合金中のSn-Cu接合部のラaaplブ元素マッピング:ESPRIT LiveMap

ライブ元素マップを使用して広範囲をスキャンし,EDSなどの分析を行う対象領域を素早く決定することができます。
溶接欠陥部のedsマップ

Zrとステンレスの溶接部の高速元素マッピング

ジルコニウムとステンレスの溶接は,さまざまな相の形成や熱影響部(HAZ)からの元素の拡散を伴う難易度の高い手法です。新しいXFlash検出器を使用した高速EDS元素マッピングにより,溶接部の局所構造や潜在欠陥を素早く確認することができます。
重ね合わせedsマップ

ウエハ,のエッチング後の残留Si, Wの高速元素マッピング

新世代XFlash®検出器で高入力カウントレ,ト(icr)でのマッピングが可能になります。ピ,クが重なる元素(SiとW)の高カウントレ,トでのマッピング例を示します。

sem-eds元素分析のアプリケ,ション例

ニュス&ベント

お問合せ

联系专家

※必須フィ,ルドにご記入ください。

名を入力してください
名を入力してください
電子メ,ルアドレスを入力してください
最初の会社/機関を入力してください
私の現在の状況を最もよく説明するものは何ですか?
利用規約に同意してください

※必須フィ,ルドにご記入ください。

このサesc escトはreCAPTCHAと谷歌で保護されています。プラバシポリシそしてサ,ビス規約が適用されます..