隕石標本の高解像度X線元素マッピング

隕石サンプルはまれであり貴重であるため、非破壊的な方法で分析することが望まれています。自然のままの表面の顕微鏡観察が研究の焦点である場合、SEMベースのEDS分析のために一般的に行われる、切断、研削、研磨、カーボンコーティングなどのサンプル調製ステップは厳密に除外されることになります。

このような状況下で特に高い空間分解能が必要な場合に、従来のEDS検出器には制限があります。 鉱物学的な隕石標本は非導電性で凹凸があるので、帯電と影の影響が主な課題です。

これらの制限を克服するための最先端のソリューションとして、XFlash^®FlatQUADを利用できます。この独自の環状EDS検出器は、BSE検出器と同様にサンプルの直上に配置されます。低いX線収率に対して非常に高い感度を持ち、影の影響を最小限に抑える特徴があるため、隕石などのコーティングされていない粗いサンプルをマッピングするのに最適なツールです。

ウィーン自然史博物館(NHM)から提供された莫cs隕石を調査しました。これは1882年2月2日に落下したものです。XFlash^®FlatQUADのアプリケーションは、深い空洞内でも元素組成の高解像度マッピングが可能であるため、宇宙材料の進化に光を当てました。

Salge et al., EMAS 2018 - Microbeam Analysis in the Earth Sciences, Bristol, UK, pp.16）