全反射蛍光Ⅹ線元素分析装置(txrf)

S2 PICOFOX

超微量元素分析のための最もコンパクトなtxrfスペクトロメ,タ,

現場での元素分析

結果までの最短時間

ハ▪▪ラ▪▪ト

サブppb
検出限界
ナノグラムまたはマ@ @クログラムの範囲の最小のサンプル量の分析
クリン
ガス,冷却媒体不要
icpよりはるかに低いカ,ボンフットプリント
Cl, As, Se
多元素同時微量分析
揮発性化合物を形成する重要な元素を簡単に定量

S2 picfox -スマ,ト,グリ,ン,コンパクト

S2 picfoxは,超微量元素分析用の可搬型全反射xrf装置です。ガスや冷却媒体から完全に独立しているため,実験室だけでなく,現場での分析にも使用することができます。

  • ハロゲン化物を含む多元素の微量同時分析
  • ナノグラムからマ@ @クログラムの微量サンプルの分析が可能
  • 毎日の校正が不要で,内部標準を用いた簡易定量が可能
  • 様々なサンプルタ▪▪プやアプリケ▪▪ションに対応
  • マトリックス効果やメモリ,効果がない
  • 低ランニングコスト,媒体,消耗品,定期的なメンテナンスが不要

利点

edxrf分光計と比較したtxrfの利点

S2 picfoxの動作原理は,全反射蛍光x線(txrf)分析に基づいています。単色放射と全反射光学系の使用により,s2 picfoxは以下のようなメリットをもたらします。

  • サンプルマトリックス中の吸収や散乱の影響を低減し,内部標準化による容易な定量を可能にします。
  • 検出器と試料の距離が近いため,蛍光収率が向上します。
  • バックグラウンドの低減により,検出限界は数桁低くなります。
  • 液体や粉体など,極微量の試料でも高精度に定量できます。

仕様

技術的な詳細

最もコンパクトな分光計

  • S2 picfoxは可搬ポ,タブル分光計です
  • ガス,冷却水,その他の媒体は不要
  • 現場での分析に最適
簡単な定量
  • S2 picfoxは工場の口径測定と提供されます
  • 定量化は内部標準を使用して単純に処理されます

最も近代的な検出器の設計

  • 最新のsdd検出器生成統合
  • 60mm²の増加したアクティブ面積
同時多要素検出
  • すべての元素は1回の実行で同時に測定されます
  • 元素の範囲はAlからU (NbからRuを除く)です

グリンテクノロジ

  • S2 picfoxの最大消費電力は180ワットのみ
  • co₂バランスは,一般的なicpシステムと比較して10倍優れています

アクセサリ

帮助避免TXRF样品制备过程中污染的附件

当检测超低ppb限度的样品时,避免污染是最优先考虑的-当使用纯样品时,关键是优良的样品制备。

布鲁克提供一系列的配件,除了他们的S4 T-STAR和S2 PICOFOX系统。

这些包括一个T-BOX,以帮助实现无污染和准确的样品移液和T-DRY的真空干燥样品;两者的设计都是为了帮助用户避免与样品承运人进行任何接触。

在收集测量数据后,可以在T-BOX中清洁存储之前,使用Bruker的耐化学洗涤盒对样品盘进行高效和有效的清洗,以供以后使用。

通过下载我们的TXRF配件手册和观看我们的TXRF样品制备视频来了解更多信息。

ニュス&ベント

詳細

リソ,スとパブリケ,ション

演示S2 picfox TXRF环境现场工作