顕微ft-ir

lumo二世

Lumos iiは,故障解析,材料研究,粒子分析に優れたスタンドアロン型の顕微ft-irです。コンパクトで高精度,fpa技術による超高速ケミカル。

卓越した赤外分光性能

鮮明な視野,超高速

ハ▪▪ラ▪▪ト

優れた操作性,生産性,正確性

強力な顕微ft-irとeconfメ,ジングft-ir

Lumos iiのご紹介|製品プレゼンテ,ション
Lumos iiプロダクトマネ,ジャ,がLumos iiとその機能を紹介します。
ブルカ,からのメッセ,ジ

赤外顕微鏡のあるべき姿

操作性に優れるより広い試料スペース,さらに高速化されたケミカルイメージング,ATR・透過・反射すべてのモードにおいて卓越した分光性能。これが真の顕微ft-irと呼ばれるものです。

特長

特長

Lumos ii仕様的特長:

  • Te-mct検出器標準搭載
  • プラグ&プレ
  • ▪▪メ▪ジング用fpa(オプション)
  • PermaSure+独自のキャリブレ,ション技術
  • 完全自動化されたハ,ドウェア
  • 高さ40mmまでの試料に対応
  • レ,ザ,をはじめとする長寿命部品
  • 高耐湿設計ZnSe光学系
  • オルンワン,省スペス設計
  • 低消費電力

Lumos ii技術的特長:

  • ソフトウェアガ@ @ド測定による使いやすさ
  • 高品位のスペクトルおよびビジュアルデ,タ
  • 液体窒素を使用せずに高い分光感度を実現
  • サブマ▪▪クロメ▪▪トルの解像度有する観察像
  • 超高速fpa
  • Atr /透過/反射,全モド対応fpaメジング
  • アクセスが容易な試料ステ,ジ
  • cGMPおよび21CFR part11準拠
  • 自動化されたoq / pqおよび薬局方テスト
  • 機能拡張に対応

アプリケ,ション:

  • 故障分析
  • 粒子·表面分析
  • 工業·製造業
  • 法科学
  • 生命科学
  • ポリマ,およびプラスチック
  • 環境科学
  • 医薬 品
荧光闪烁iiとは

どこでも·誰でも顕微ft-ir

分析スキルレベルに関係なく,高度な技術をすべてのユーザーが利用できる時代が来ていると私たちは考えています。傅立叶变换红外光谱イメージングと顕微红外の利点は,使いにくい装置という理由で制限することができないほど,あまりにも多すぎるからです。

lumo IIは開発の当初から,傅立叶变换红外光谱イメージングをより速く,より簡単に,より正確に,より信頼性の高いものにし,さらには分析そのものを楽しめることを目的としていました。もろん,そのためには,新しい技術を取り入れ,実績のある技術を改良する必要がありました。

そうした観点から,特にソフトウェアやユザンタフェスは,ユザに合わせて調整しました。初心者は時間をかけずとも完璧な結果を得ることができ,同時に,上級者による装置の完全な制御を可能にする柔軟性も維持しています。

卓越した性能をも顕微atr機能

優れたft-irマクロスコプ

良い結果は良い装置から-これに尽きます

透過法、反射法、減衰全反射法(atr)のいずれであっても,lumos iiは常に正しい選択です。しかし,その最大の強みは,fpa技術によって強化された顕微atrです。これにより,lumos iiは故障解析や製品開発のための万能ルとなりました。

結論から言えば,lumo iiのatrの能力は他の追随を許しません。信頼性の低い手動の顕微atrで妥協せずに,最高のものを手に入れましょう。荧光闪烁iiを手に入れてください。

自動格納式ATRプリズムは,高精度の圧電モータによって制御され,カセグレン式対物鏡に組み込まれています。これにより,試料の鮮明な観察像を維持し。

信頼と実績の技術

説得力のある▪▪ノベ▪▪ション

あらゆるニズに応える耐久性とパワ

最高の技術をお客様に伝えること,私たにとっては当然のことです。もろんこれはlumos iiにも当てはまります。

RockSolidTM干渉計は恒久的な高い性能を保証し,最新の制御系は機械的精度と消費エネルギ,の低減を保証します。一方,ソフトウェアは装置の有効性を監視し,常に正しい機能を保証します。

アプリケ,ション

Lumos iiアプリケ,ション動画

Ft-ir顕微鏡のatr法によるコ,ティング欠陥の分析
ft-ir顕微鏡によるプリント基板の故障解析
ft-ir顕微鏡による食品包装フィルムの接着層の分析
fpa & # # # # # # # # # # # # #
ft-ir顕微鏡による繊維や布の品質管理
Lumos ii -可視像とスペクトルメジの完全な重ね合わせ
ft-ir顕微鏡による捕集された粒子の発生源調査
マクロatrデバ
ft-ir顕微鏡によるdlc層の膜厚計測
顕微ft-irによる多層フィルムのatrランマッピング測定
ft-ir顕微鏡によるダeprヤモンドの品質評価

ニュス&ベント

Opus 8.7 | hyperion ii | 2021年q3リリ,ス情報

新機能:適応的k平均クラスタリング機能による高性能ケミカルメジング生成法

この新しい機能は,当社の定評あるクラスタ,分析機能の論理的な次の開発ステップです。適応的K平均クラスタリング機能は,新しいアルゴリズムに基づいており,イメージングまたはマッピングデータ内のスペクトル分散を監視なしで自律的に決定できます。

  • このアルゴリズムでは,試料に含まれる化学物質を自ら予測することができるため,ピーク強度を用いて量的に解析したり,時間をかけて検索する必要がなくなります。
  • 本機能は,あらゆる種類のケミカルイメージングに適用でき,未知試料の分散状態や,大きなデータセット内に隠れている微小構造の分析などにおいても有効です。
  • 分析と解析を可能な限り簡単にし,貴重な時間を節約することができます。

新機能: 3dスペクトルデ,タからクラスを識別する"クラスタ,id "機能

新規クラスターID機能により,作品の標準機能(スペクトル検索,クイックコンペア,判別テスト)を使用して,イメージングおよびマッピングデータ内のクラスターを識別することができます。

  • 粒子,ラミネート層,医薬品錠剤の成分など,不均一な材料について各成分が自動的に分類され,化学的同一性を簡単に決定することができます。
  • 分析されたすべての構造物の量,サイズはもちろん,同一性に関する信頼性の高い包括的な統計レポートが提供され,粒子および技術的な清浄度分析を新しい自律レベルに導きます。

機能アップデ,ト:“パティクルファンド(粒子検出)”機能に新たな粒子検出法が追加

“実績のあるパーティクルファインド”機能が,可視画像だけではなくケミカルイメージにも適用できるようになりました。これにより,lumo IIを用いて測定し作成されたケミカルイメージデータについても粒子の検出を行うことができます。

  • コントラストの低い構造物や,オフホワイト色のフィルターメンブレン上にある透明な粒子やファイバーの認識は難しい場合がありますが,本機能を用いてケミカルイメージに対してパーティクルファインド機能を実行することにより,イメージングまたはマッピングデータにおける粒子の量とサイズを決定することができます。
  • lumo IIとパーティクルファインド機能を併用すると,視覚的にも赤外的にも細部を見逃すことはありません。
新機能“適応的k平均クラスタリング機能”を用いて,自律的に作成されたケミカルメジ。
酸化アルミニウムフィルタ,上で自動認識された粒子。粒子は,新機能"クラスタ. id "を用いてサree .ズと同一性によって即座に分類されます。

詳細

資料ダウンロ,ド

当社の顕微ft-ir分析装置とソリュションの詳細にいては,こらから資料をご確認頂けます。