PMA50

pma50は，ブルカ，のINVENIOおよび顶点シリ，ズft-irと組み合わせて用いる，偏光変調測定モジュ，ルです。PMA50に組み込まれているすべての光学部品と電子部品は、赤外領域における偏光変調測定に最適化されており、PM-IRRASを代表とする直線二色性分光測定ならびに振動円二色性分光測定VCDにおいて優れた性能を示します。

偏光変調測定法の中核となるのは，42 kHzの変調周波数をも光弾性変調器(PEM)です。並列24ビットデュアルチャネルデータ取得技術により,変調信号の直流成分と交流成分を高い精度で同時に取得することができます。さらに，最短の光路をもpma50は，優れたs / nと安定性をもたらします。

INVENIOおよび顶点では,ソフトウェア制御によるJ-stopアパーチャの切り替えと光学フィルターの選択が可能なため,試料上の測定エリアの最適化と,測定波数領域の設定が簡単に行えます。光学系自身がもつ偏光特性を最小限に抑え,偏光測定における最高の性能を得るため,検出光学系には高精度のレンズ集光方式を採用しています。

• 参照基板を用いることなく，金属基板上の単分子層または非常に薄いコ，ティングに関する解析が可能
• 腐食プロセスの解析
• 水蒸気による妨害吸収の排除
• タンパク質とペプチドの二次構造の特性評価
• エナンチオマ，の純度制御
• エナンチオマ，のコンフォメ，ション解析