顶点80/80v

スペクトル範囲の拡張

顶点80/80vは,遠赤外/テラヘルツから中赤外,近赤外,可視および紫外領域までのスペクトルレンジをカバーする光学部品オプションを装備することができます。事前に調整された光学コンポーネントとアクティブアライメントされたUltraScanTM干渉計により,簡単にレンジ変更とメンテナンスができます。

BMS-c:ブルカーは,顶点80 v真空分光計用の高精度ビームスプリッタ交換オプションBMS-cを提供しています。

これにより，真空条件下で最大4種類のビ，ムスプリッタの自動交換が可能となります。ビームスプリッタの手動交換では避けられなかった,分光計の光学ベンチの大気開放をすることなく,紫外/可視から遠赤外/テラヘルツ領域までの完全なスペクトル範囲を連続的に測定することが可能です。

新しい:力量は,顶点80/80v傅立叶变换红外光谱分光計シリーズ用の新しい広帯域遠方IR /太赫兹ビームスプリッターにより,利用可能なビームスプリッタの範囲を拡張しました。特に半導体や追加の無機材料の研究開発のために，新しい遠いIR固体ビ，ムスプリッタ，は，900cm^－1以上からapprまでのスペクトル範囲を公称的にカバ，するため，追加の値を提供します。1回の測定で^{5 cm - 1,}非常に長波FIR/THz波長範囲で中型IRを接続します。

スペクトル分解能

VERTEX80およびVERTEX80v標準構成は,0.2 cm - 1よりも良いアポダイズドスペクトル分解能を提供します。これは,ほとんどの大気圧気相研究および室温サンプル測定に十分です。先進的低温作業のために,例えば結晶性半導体材料や低圧での気相測定では,0.06 cm - 1よりも高い峰分解能が得られます。これは市販のベンチトップ英尺高红外自分光計を用いて達成した最高のスペクトル分解能であり,可視スペクトル領域の高分解能スペクトルは30万:1の分解能(波数νをスペクトル分解能Δνで除した値)を示します。

優れた拡張性

革新的な光学設計により，非常に柔軟で拡張可能な研究開発用真空ft-ir分光計が完成しました。真空光学ベンチを用いることで,試料の僅かな吸収ピークが水蒸気の吸収ピークで覆われる心配もなく、中、近、遠赤外領域における最高のピーク感度が得られます。例えば,単分子膜の研究などが行われるナノサイエンス分野において,顶点80 v真空傅立叶变换红外光谱分光計で顕著な結果を得ることができます。拡張性に関する制限はほとんどありません。光学ベンチの前面と左右側面に全5 2。これにより,例えば,背面の入射ポートにシンクロトロン光源,右側面の出力ポートにPMA50偏光変調アクセサリ,右前面の出射ポートに光ファイバー,左前面の出射ポートにボロメーター検出器,左側面の出射ポートにHYPERIONシリーズ红外顕微鏡を同時に接続することも可能です。

VERTEX 80系列は、現場レベルの厳しい要求にも通用する、理想的な分光計です。

製品に使用されている技術は，次の特許により保護されています:us 7034944;

顶点80ならびに顶点80 vは,最先端のアプリケーションに求められる,究極の分析環境を提供します。革新的な設計により，最高レベルのパ，ジ光学系，乾燥密閉光学系，真空光学系を実現しています。この高性能光学系により,紫外/可視(50000 cm - 1)から遠赤外/テラヘルツ領域(5 cm - 1)までカバーすることも可能です。顶点80/80vシステムは,ハイエンドリサーチの各種アプリケーションに対応する,高い柔軟性と圧倒的な分光性能を提供します。

研究開発

• 高性能扫描步機能による時間分解測定および位相分解測定オプション(步骤扫描/快速扫描/交叉TRS)
• メタマテリアルの同定
• ガス分析に適する，0.06 cm-1以上の最高分解能
• 真空型ft-irビムラン取付用アクセサリ
• 真空ft-irビムラン設置用計測装置
• 酵素触媒実験用，ストップトフロ，法
• 超真空測定用試料室接続機構

製薬

• 分子構造解析(vcd)
• 熱分析を用いた安定性および製剤成分の解析(tga-ft-ir)
• 遠赤外領域における製薬原料の多形態同定(顶点fm)

ポリマ，·化学

• 遠赤外領域における，ポリマ，中の無機フィラ，同定(顶点fm)
• 熱分析を用いた，揮発性物質の同定と分解プロセスの特定(tga-ftir)
• リアクションモニタリングならびにリアクションコントロル(中赤外領域ファバプロブ)
• 無機鉱物および含量の同定
  

表面分析

• 単分子膜など薄膜の同定·解析
• 極性変調を用いた表面分析(pm-irras)

材料科学

• 光学性および高反射性物質の同定(窓，鏡など)
• Pasを用いた暗色物質および深さプロファル解析
• 物質の放射特性分析
  

半導体

• シリコンウェハ，中の酸素·炭素物質同定
• 品質管理時の不純物における低温nirフォトルミネッセンス分析

外部付属品，線源及び検出器

VERTEX80/80v分光計は5つの出射ポートと2つの入射ポートを備えており,例えば,これらを外部光源やシンクロトロン光源に接続することが可能です。また光学系は,外部測定アクセサリ,光源および検出器を用いて,以下の内容を容易にアップグレードできます。

• vcdおよびpm-irras用pma50偏光変調アクセサリ
• Pl iiフォトルミネッセンスモジュ，ル
• RAM II FT-ラマンモジュルとRamanScope III FT-ラマン顕微鏡
• tg-ft-irカップリング
• hyperionシリ，ズft-ir顕微鏡
• hyperon3000 ft-irメ，ジングシステム
• HTS-XTハスルプットスクリニング扩展名
• Imacフォカルプレンアレマクロメジングアクセサリ
• 排気またはパ，ジ可能な外部サンプルコンパ，トメントxsa
• 外部真空気密uhvチャンバ，適応
• 真空pl / pt / pr測定ユニット
• 低温液体他又は低温液体フリクラオスタット
• 固体および液体用のmirまたはnirファバプロブユニット
• 大型積分球ユニット
• オトサンプラデバス
  
  

• FIR用外部Hg光源
• ブルカ，オリジナル広範囲mir-fir検出器
• 遠赤外/THzビムスプリッタ
• 外部エミッションアダプタ
• 外部高性能mir光源
• 外部高性能vis光源
• 外部真空4ポジション検出器チャンバ(真空光学系用)
• fir用ボロメタ検出器
• 自動ビ，ムスプリッタ交換ユニット(bms-c)(真空光学系用)