AFM-IR和s-SNOM比较

aFM-IR和s-SNOM是辅助技术,有不同强项随身带纳美里3s中选择一种配置方法或两者并用,视采样和测量需要而定。AFM探针直接检测样本吸收光以感应热扩展热扩展主要取决于样本吸收系数ks,基本独立于端点和样本的其他光学属性因此AFM-IR技术优先用于需要精确吸收频谱的测量雷竞技网页版aFM-IR优等软质研究,因为这些材料高热扩展

s-SNOM检测光分纳米级直接下方AFM探针散域依赖复杂光常量端与样本并存并包含丰富的纳米光学现象信息参考样本(例如金或硅)需要从源与端分离样本响应贡献可能需要建模支持解释结果雷竞技网页版s-SNOM是光学属性成像纳米级对比的强制技术,先进材料、设备及光/物基本交互应用多种多样雷竞技网页版s-SNOM最能工作硬素