顕微鏡

ブルカーの材料研究用原子間力顕微鏡マテリアルAFMは,独自のPeakForce攻®技術を搭載しており,新しいナノメカニクス,ナノ電気,ナノ電気化学の研究を進めるのに貢献。1日に3本の査読付き論文が発表されています。

自動化で生産性を向上させる産業用r&d afmソリュ，ション

物理構造，生化学的相互作用，機械的性質を含むラ

フォ，ス検出付き光ピンセットと光トラップ

3 d X線顕微鏡(XRM / X線CT)は様々な産業/科学アプリケーションの非破壊3 dイメージングの包括的ソリューションです。鋳造,機械加工,3 dプリンター造形物などの欠陥検出,電気機械アセンブリの検査,医薬品包装,医療機器,地質サンプルの空隙率と粒径分析,原位顕微鏡法などが含まれます

SEM和TEM分析力を拡張するために,力量の電子顕微鏡分析装置EDS、WDS, EBSDおよびMicro-XRF扫描电镜上の先端材料研究,プロセス開発および故障分析のための分析ソフトウェアを含む材料の最も包括的な組成および構造分析を提供する。