ESR

他にはないアップグレード技術で、ESR分光計の性能を最大限に引き出すことができます。技術の進化に伴い、デジタル・アップグレード・パスウェイは、お客様が最先端のCWおよびFT-ESR研究の要求を満たす装備を維持できるよう、独自に開発されます。

現在のアップグレードでは、大幅な改善を実現します。

• 分解能
• 操作性
• 安定性
• 許容値
• 感度

ELEXSYS

改良された32ビット振幅分解能、高速デジタイザー、高速スキャンのデータ取り込み

デジタル・ロックインとして、SPUは、1回のスキャンで、同じレシーバーゲインで大小の信号の両方に、比類のない検出能とデジタイズを提供します。また、SPUは、過渡的な取得のための高速デジタイザーとして、また、超高速磁場掃引のための高速スキャンドライバーとしても機能します。
ロックイン：

• 最大5種までの高調波を同時検出
• 吸着・分散チャンネル
• 最大10マイクロ秒の分解能でタイムスキャンが可能

信号処理装置(SPU)

高速デジタイザー

• 125MHz
• 机上64k
• 16000

高速スキャン

• 200G
• i16k
  

最大256000ポイントの磁場分解能

狭い掃引範囲でも広い掃引範囲でも非常に高い磁場分解能を有しています。磁場掃引実験のポイント数を2～256000ポイントまで連続的に変化させることができます。

Xepr+

新しい Xepr の機能

• XeprAPI对 Python^®スクリプトインターフェース
• 高精度ダブルインテグレーションツール
• 標準試料を使用しない定量的ESR用SpinCount™ソフトウェアモジュール
• スピントラップデータ解析のためのSpinFit™ソフトウェアモジュール
  

XeprspinCountTM

• 標準試料が不要なスピンカウント
• 一回の測定
• 高精度の結果出力と管理
• 容易な操作、正確な手法
  

XeprspinfitTM

• スピントラップデータベースからのラジカル付加体の定義
• 実験スペクトルに対するラジカル付加体のフィッティング
• SpinCount™を用いたラジカル付加体の濃度測定

EMX

• 新開発のシグナルチャンネルとフィールドコントローラー、イーサネット経由のインターフェイス
• 新しいデジタルデバイスは、フィールド分解能と信号振幅分解能の両方でダイナミックレンジを向上
• 信号チャネル：改良された振幅分解能、24ビット
• 1回のスキャンで、同じレシーバーゲインで、大きい信号と非常に小さい信号を検出し、正しくデジタル化
• Hall Controller：フィールド分解能の向上、256000ポイント
• 狭い掃引範囲でも広い掃引範囲でも、非常に高い磁場分解能を発揮

新元市

特長

• Linuxベースのソフトウェアパッケージの容易な取り回し
• 統合されたデータ測定および処理ソフトウェア
• 自動掃引分解能設定
• 飽和解析実験のためのP½フィッティング
• 高精度ダブルインテグレーションツール
• 標準試料を使用しない定量的ESR用スピンカウントソフトウェアモジュール
• スピントラップデータ解析用SpinFitTMソフトウェアモジュール
• ELEXSYS#BES3T##
  

XeprspinCountTM

• 標準試料が不要なスピンカウント
• 一回の測定
• 高精度の結果出力と管理
• 容易な操作、正確な手法

XeprspinfitTM

• スピントラップデータベースからのラジカル付加体の定義
• 実験スペクトルに対するラジカル付加体のフィッティング
• SpinCount™を用いたラジカル付加体の濃度測定

ご利用中のEMX/ELEXSYS transputerまたはESPシステムを次のレベルにアップグレードするには、当社のアップグレードパスウェイのいずれかを選択してください。

模式二

PatternJet-Iの高性能をベースに、PatternJet-IIでは各チャンネルのメモリを拡張し、より多くのパルスと回数を実現し、再プログラミングのオーバーヘッドがありません。

• +++
• 1024
• 再プログラミングが不要なダイレクトフェーズサイクル
• 再プログラミングのオーバーヘッドがなく、直接2Dデータ測定が可能

spectJet-III

高速平均化とリアルタイムのデジタル信号処理を組み合わせた SpecJet-III は FT-ESRに理想的なデジタイザーです。時間領域でのESR実験の最適化に加え、周波数領域での実験の最適化と収集にDSPを使用しています。

• 0.5ns
• 14 ビットの振幅分解能
• リアルタイムデジタル信号処理
• FFT
  

高速データ測定

PatternJet-IIとSpecJet-IIIの組み合わせは、これまでにない実験効率と柔軟性を実現します。

ダイレクト位相サイクル

SJ-III/PJ-IIの組み合わせでは、位相サイクルに伴うオーバーヘッドが取り除かれました。これまで10秒かかっていた16ステップの位相サイクルの2パルスESEEMスペクトルを0.8秒で取得できるようになりました。

マルチスライスデータ測定

SJ-III/PJ-IIは、二次元実験のスライスを個別に取得するのではなく、複数のスライスを同時に取得します。これまで346秒かかっていた2D HYSCORE実験が、わずか70秒で完了しました。

SpinJet-AWG

SpinJet-AWGはパルスESRの飛躍的な進歩です。広範囲のMWパルス制御により、実験デザインと最適化に新たな可能性を開きます。

各パルスの周波数定義

ショット内でのパルス形成

パルスの周波数チャープ

各パルスの位相定義

マルチチャンネルアーキテクチャー

ご利用中のELEXSYS transputer/OS9 システムを次のレベルに引き上げるには、当社のアップグレードパスウェイを選択してください。