地质学的解析SEM解决方案-第一部分

加入我们的网络研讨会，包括两个部分，涵盖扫描电子显微镜技术在地质应用的各个方面。第一部分包括SEM和EDS分析，第二部分包括EBSD, CL和样品制备。

第一部分-地质扫描电子显微镜(SEM)成像和成分分析

SEM结合x射线显微分析(EDS)为了解材料的形貌和微观结构提供了一个非常强大的工具。雷竞技网页版我们解释了如何优化扫描电镜和执行先进的微观分析地质应用。我们的特邀嘉宾Tobias Salge博士将回顾微量分析在地球科学中的应用。

本次45分钟的网络研讨会将以15分钟的问答环节结束，我们的专家将回答您的问题。

第二部分-利用EBSD和CL探索矿物的微观结构和化学

电子背散射衍射(EBSD)和阴极发光(CL)是完成矿物学样品表征的重要工具，通过了解变形、相变、缺陷、晶体生长、分带、胶结和微量元素化学。由于该技术是表面敏感的，我们还将研究样品制备方法。

这场45分钟的网络研讨会将于9月10日举行^th最后还有15分钟的问答环节，我们的专家将回答大家的问题。第二部分报名即将开始。

• 地质科学和采矿研究人员
• 显微镜学家想探索新的分析技术，如EBSD和CL
• 有人考虑将电子显微镜作为陶瓷、氧化物材料、矿物等的表征技术吗雷竞技网页版