高速上使用Micro-XRF SEM的映射

Micro-XRF分析扫描电子显微镜(SEM)是一个独特的和高效的分析解决方案增加样品的元素和相位信息。与传统的电子束分析相比,micro-XRF提供降低检测极限(ppm水平),高能量x射线线激发和一个更大的信息深度,打开新的可能性SEM用户寻找一个更完整的标本鉴定。

的XTrace可以安装在一个可用的SEM港口和x射线可以专注的光斑尺寸小于30µm使用现代x射线polycapillary光学。小点不仅让小样本的分析领域也检查元素的分布。自从与样品的x射线是在一个固定的空间位置,micro-XRF元素映射必须获得通过运动阶段。然而,限制的特点将micro-XRF分析的好处是SEM阶段不是专为高速运动。

因此,结合XTrace新快速的阶段是有利的。这个高速阶段上装的是SEM阶段,使用一个常数定义的移动速度和被设计成操作会同micro-XRF获取所需的信息来源在大面积速度令人印象深刻。

在这次研讨会,我们将例子从一个广泛的应用领域的快速阶段,包括岩石学、环境、地质和考古样品。最后,我们将提供一15分钟问答环节,我们的专家会回答你的问题。

• 研究人员在地质科学和采矿
• 科学家们分析领域的Micro-XRF SEM技术感兴趣
• 每个人处理应用程序需要大样本的概述

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