기대이상의XRD
D8发现+는X선회절계와이분야에서가장강력하고다재다능한기기입니다。
코어는고효율터보X선소스(TXS-HE)와시장을선도하는Non-Coplanar手臂을호스팅하는고정밀ATLAS고니오미터입니다。
분말,무정형및다결정재료에서상온및비상온조건에서에피텍셜다층박막에이르기까지다양한재료의구조적특성화를위해설계되었습니다。
응용프로그램:
D8 DISCOVER Plus에는Non-Coplanar手臂이장착되어있어탁월한성능으로내부회절측정을수행할수있습니다。
X선회절에서정확한샘플분석의기본은측각계와특히측정중에장착된구성요소의정확한방향입니다。阿特拉斯고니오미터는설계상이러한요구사항을정확히충족하고각도및공간정확도에대한기준을설정합니다。
阿特拉斯测角仪가장착된D8发现+에는브루커中心——AXS일반얼라인먼트보증이함께제공됩니다:측정및인증된피크포지션∆2θ의각편차는≤0.007°입니다。이는각개별계측기와함께nist준srm1976을측정하여확됩니다。
분석X선용도구의주요측정이신호대잡음또는신호대배경으로정의된데이터품질이든,샘플처리량이든상관없이한가지상수는더많은신호가항상이점이라는것입니다。
고효율터보X선소스(TXS-HE)는회전양극기술과관련된유지보수를최소화하면서신호를증폭하도록설계되었습니다。
Trio옵틱
Atlas™고니오미터
蒙特尔옵틱을갖춘iμs마이크로포커스소스
捻管
컴팩트한UMC Plus 150
PATHFINDER Plus옵틱
Eiger2 r 500k
전용옵틱을갖춘MONTEL Plus
共面衍射共面
실험에서소스와검출기는샘플표면에대한각도를증가시켜샘플표면으로의프로빙방향을만듭니다。
Non-Coplanar衍射
비——공동평면실험에서,샘플표면에대한소스및검출기각도가고정되고,검출기가샘플표면에평행하게움직이는방향으로이동하여샘플표면을따라프로빙방향이됩니다。
阿特拉斯고니오미터는분석의각도및실제공간포지셔닝정확도를모두높여시료의소형영역에서대규모측정이가능합니다。대칭발산iµs를蒙特尔+및다중모드eiger2 r검출기와결합하여새로운등급의회절계가구현되어빔라에서발견되는것과유사한빔품질및검출기능을제공합니다。
분말회절(xrpd)은낮은방향의샘플에대한광범위한응용을다룹니다。D8发现+ ATLAS는고니오미터를통해XRPD를새로운차원의정밀도로제공합니다。D8发现+의XRPD분석을통해업계를선도하는D8고니오미터이상의정확도를개선함으로써연구원은이전에관찰되지않은사소한구조세부사항을발견할수있습니다。D8发现+에TXS-HE를장착하면기존튜브시스템보다5배이상빠르게XRPD데이터를수집할수있습니다。
강력한diffrac。套件소프트웨어와결합된D8发现+를사용하면다음과같은PXRD애플리케이션을간단하게실행할수있습니다。
2d검출기가있는μxrd
Non-Ambient XRD
X선소각산란(saxs)
광각x선산란(蜡)
평면내회절
X선반사측정(xrr)
상호공간매핑
사양 | 혜택 | |
捻管 |
포트와선초점간의쉬운전환 사용가능한양극:Cr, Cu, Mo, Ag 최대출력및필라멘트:양극재료에따라최대3kW(0,4 x 16mm²) 특허:ep 1 923 900 b1 |
다양한애플리케이션에완벽하게일치하는파장의빠른변경 더넓은범위의애플리케이션을위해라인과포인트포커스사이를가장빠르게전환하고짧은시간에더나은결과를초래합니다。 |
Iμs마이크로포커스소스 | 전력부하:최대50w,단상전력 MONTEL과MONTEL Plus옵틱은평행과초점거울을결합。 빔크기는180 × 180 μm²입니다。 미러출구에서최대통합플럭스8 × 10⁸cps。 0,5mrad까지빔발산 |
고휘도및초저배경의밀리미터크기빔 낮은전력소비,물소비없음및수명연장구성소를갖춘친환경설계 최상의결과를위해빔모양과발산최적화 |
Txs-he엑스레이소스 | 수직atlas고니오미터를위한작고가벼운디자 라坐标系포커스,0.3x3 mm² 6kw / mm²의초점폭등 양극재료:Cu, Co, Cr, Mo 최대전압50 kV,양극재료에따라최대출력:Cr 3.2千瓦,铜/钼5.4千瓦,Co 2, 8 kW 사전정렬된텅스텐필라멘트 |
수평샘플장착을허용하는높은플럭스x선소스。 ` ` ` ` `준세라믹x선소스에비해최대5배더높은강도。 라및스팟포커스애플리케이션에적합 사전정렬된필라멘트는최소한번의재정렬구사항으로빠른필라멘트교환을허용합니다。 |
Trio옵틱 | 소프트웨어푸시버튼스위치: 전동발산슬릿(布拉格-布伦塔诺) 고강도Ka1,2병렬빔 고해상도Ka1병렬빔 특허:us10429326, us665372, us7983389 |
수동사용자개입없이최대6개의서로다른빔형상간에완전자동전동전환 분말,벌크재료,섬유,시트및박막(비정질,다결정질및에피택셜)을포함한모든시료유형에완벽하게적합합니다。 |
고해상도모노크로메이터 | 대칭및비대칭형상의Ge(220)및Ge(004)반사 2바운스및4바운스(巴特尔斯유형)단색 提前。锁定기술을통한정렬없는마운팅 |
최상의결과를얻기위해최상의해상도와강도균형에대한광범위한선택。 다양한샘플에최적화하기위한모노크로메이터의빠른교환 |
Atlas™고니오미터 | Txs-he x선소스를호스팅하도록설계된강제메커니즘이있는수직각도계 업계최고의각도정확도:NIST SRM 1976에서결정된전체각도범위에서±0.007°2θ보장 옵틱,포지셔닝카메라,샘플스테이지,비상온및검출기기술을포함한D8구성요소제품군의완벽한통합 |
브루커의고유얼라먼트보에의해명시된탁월한정확성과정밀도 수명윤활이가능한절대유지보수가필없는구동메커니즘/기어링 최고정확도데이터를생성하기위해전체범위의애플리케이션을지원합니다。 |
Non-Coplanar手臂 | 초박형레이어및평면샘플특성을조사하기위한세번째고니오미터축: 최소단계크기:0.001° 최대2θ범위(구성에따라다름):160° 자동검출기거리감지 |
직접각진코더로탁월한정확도 DIFFRAC。套件소프트웨어와의완벽한통합 가장정확한非共面구조결정을위한최대160°2θ범위 Eiger2검출기를위한실시간교정 |
컴팩트한umc스테이지 | 컴팩트한UMC Plus 80: Xrpd용빠른스피너 최대(x,y)번역:+/- 40mm 최대샘플높이:57mm 컴팩트한UMC Plus 150: 최대(x,y)번역:+/- 75mm 최대샘플높이:57mm 웨이퍼척및틸트스테이지용진공및전기공급 |
박막연구와분말회절모드간의원활한전환 51mm시료직경을위한5위치샘플체通讯录저 32mm시료직경을위한9위치샘플체通讯录저 2-4"웨이퍼매핑 6-8”웨이퍼매핑 반사모드96웰플레이트기능 케이블이나진공파이프를신경쓰지않고도연결된틸트스테이지와진공으로무한한φ회전을허용합니다。 |
布鲁克XRD溶液由高性能组件组成,以满足分析要求。模块化设计是配置最佳仪器仪表的关键。
所有类别的组件都是Bruker关键竞争力的一部分,由Bruker AXS开发和制造,或与第三方供应商密切合作。
布鲁克x射线衍射组件可用于升级已安装的x射线系统,以提高其性能。