DIFFRAC。LEPTOS

X선반사율(XRR)은수직샘플밀도프로파일,층두께및인터페이스거칠기에대한자세한정보를제공합니다。고해상도x선회절(hrxrd)은시료의결정구조를측정합니다。방목발생소각산란(gisaxs)은나노입자및다공성평가를위해사용됩니다。잔류응력분석은벌크샘플및다결정코팅의균주상태를조사합니다。

LEPTOS는기존의단일커브스캔과함께고해상도HRXRD및XRR상호공간맵,GISAXS및XRD²응력프레임,HRXRD, XRR및잔류응력애플리케이션을위한영역매핑을분석할수있습니다。데이터가0-d, 1-d또는2d검출기로수집되었는지여부는중하지않습니다。
GUI는과학연구자와산업운영자모두의요구사항을수용하기위해사용자정의할수있습니다。

• 다중xrr, hrxrd, gisaxs및rs측정의공동평가
• 직접및상호공간에서데이터의추정,시뮬레이션및피팅을위한고급X선산란이론및수치방법
• 포marketing트，라marketing및2차원검출기로측정된1차원및2차원데이터세트의자연통합처리
• 모든유형의박막및벌크샘플매개변수화를위한범용샘플모델편집기
• 모든230개의결정공간그룹을포괄하는포괄적이고확장가능한재료데이터베이스
• 대형샘플대형샘플역에서수행되는측정의
• 一维및2차원데이터의잔류응력분석을위한고급罪²ψ방법뿐만아니라다결정코팅의응력그라데이션을평가하는다중(hkl)방법

LEPTOS R은얇은계층구조에서X선반사도(XRR)데이터와오프스페큘러확산분산산란(DS)을분석하기위해설계되었습니다。이모듈은HRXRD, GISAXS및XRR데이터의동시분석을통합하는LEPTOS제품군에완전히통합되어있습니다。瘦体제품군의일부로r모듈은전체패키지에공통된모든기능을상속합니다。

LEPTOS R은VAMAS프로젝트A10을포함한여러국제벤치마크에서높은평가를받았습니다。LEPTOS R의구조는XRR데이터의데이터형식에대한새로개발된국제rfCIF표준을준수합니다。

LEPTOS年代는고전적인sin2θ및확장된XRD2방법을사용하여0 d, 1 d또는2 d검출기로측정된잔류응력분석을위한혁신적이고강력하고포괄적인모듈입니다。이모듈은LEPTOS제품군에완전히통합되어전체패키지에공통된모든기능을상속합니다。