高分辨率x射线元素映射的陨石标本

陨石样本很少,因此珍贵,他们最好是由非破坏性分析方法。当微观研究的原始表面是研究的焦点,常见的SEM-based EDS分析样品制备步骤如切割、研磨、抛光和碳涂层被严格排除在外。

传统EDS探测器面临限制在这种情况下,特别是在高空间分辨率是必需的。由于矿物陨石标本皆不导电和地形,充电和阴影效应是主要的挑战。

为了克服这些限制,最先进的解决方案是可用的XFlash^®FlatQUAD。这种独特的环形EDS探测器放置样品的正上方类似疯牛病探测器。它的特点是一个极高的灵敏度低的x射线产生,最小化任何阴影影响,因此一个完美的工具,映射粗糙,non-coated如陨石样本。

我们调查了举陨石,历史性的2月2日,1882年在匈牙利,提供的自然历史博物馆在维也纳(NHM)。的应用XFlash^®FlatQUAD揭示宇宙的进化材料由于其高分辨率的映射能力构成的化学元素即使在深腔。(Salge et al ., 2018年mtv大奖-微光束分析在地球科学,布里斯托尔英国pp.16)