Micro-XRF光谱仪

M4龙卷风+

很轻的元素micro-XRF

光谱仪映射到碳

He-Purge敏感样品

하이라이트

最低可检测的元素
所有元素从碳可以测量
> 6
毫米
用AMS景深
孔径管理系统(AMS)允许大幅图像地形样本
0.5 - -4.5
毫米
可选择的准直器尺寸
四位准直器改变另外管

革命很轻的元素micro-XRF扫描仪

与力量的最新模型micro-XRF家庭,你可以找到更多关于你比光谱仪以前给你们样品。

很轻的元素探测器,M4龙卷风+是第一个micro-XRF扫描仪能够测量碳以上的任何元素。此外,所有光元素强烈的性能增加。

在这个仪器,力量介绍了专利孔径管理系统(自动对盘及成交系统),增强了polycapillary镜头的景深尖锐的元素不平衡样本的映射。可选的第二个x射线源进一步扩展分析功能的四种可选择的位置大小从0.5到4.5毫米。

更轻、更快、更深。

室的M4 He-flush龙卷风的家庭提供了一个选择。这就增加了轻元素的性能,同时保持大气压力室。光元素在生物或湿标本进行分析,而不需要冻结或干燥的样品。

M4龙卷风+:micro-XRF光谱仪很轻的元素

혜택

受益于+分析性能

  • 测量固体颗粒或液体与所有优势明晰M4龙卷风家族
  • 扩展你micro-XRF经验记录光谱的能力,线扫描和地图完成元素的范围从碳
  • 记录并保存的组合光学图像和完整的光谱信息每像素在HyperMap数据立方体
  • 减少测量时间通过集中的结合x射线和两个高通量SD探测器很轻的元素
  • 得到快速量化结果与一个可配置的基本参数常规或使用力量的standard-supported XMethod软件,完全基于标准和量化层厚度
  • 地图不平衡样本在高使用光圈景深管理系统(自动对盘及成交系统)
  • 提高性能升级和服务包在整个生命周期的仪器

추가정보

资源和出版物

出版物