顶点70 v

진공 광학

顶点70 v진공红外분광계의대피광학벤치를통해중거리,근교및远红外线/太赫兹영역감峰值의도는수증기또는有限公司₂흡수로한매우약한스펙트럼특징을마스킹할두려움없이얻어집니다。뛰어난결과，예를들어나노과학연구의역에서하위단층까지，얻을수있다。

브루커FM fir-mir분광기

독특한布鲁克FM기술은광학부품을변경할필없이단일단계측정에서6000cm^－1~ 50 cm - 1의완전한원거리및중간红外스펙트럼을획득할수있는가능성을제공합니다。

넓은스펙트럼범위

VERTEX 70v는선택적으로광성분을장착하여멀리IR/THz에서^10cm-1부터红外근처의중간및근간을통해28000 cm - 1의VIS / UV스펙트럼범위까지스펙트럼범위를커버할수있다。^－1사전정렬된광학부품과구적으로정렬된RockSolid^TM간섭계를통해범위변경이용이하고유지보수가없습니다。

공지능네트워크

샘플링액세서리및광학부품인식,자동설정및측정파라미터검사와같은훌륭한기능의조립으로红外분광법을쉽고빠르고신뢰할수있습니다。또한분광기구성요소의영구적인온라인검사는고장진단및유지보수를단순하게유지합니다。전체소프트웨어도구제품군은이기능을보장합니다。

플러그앤플레이:간편한설정

전세계,어디에있든전원코드와이더넷연결을연결하고顶点70 v는작동할준비가되어있습니다。顶点70 v에대한이더넷연결은네트워크또는월드와이드웹을통해분광계를제어할수있습니다。

VERTEX 70v는까다로운연구및개발응용분야에이상적도구입니다。

사용되는기술은다음특허중하나이상으로보호됩니다:us 7034944

顶点70 v진공분광계는고감도(안정성및시간적해상도가필요한연구응용분야의요구에완벽하게부합합니다。冷杉/太赫兹영역까지사용가능한스펙트럼범위는산업연구를위한추가적으로특정응용프로그램을가능하게합니다。다목적顶点70 v시스템은红外분광법분야의거의모든요구에적합한액세서리와적절한측정기술을사용하여제공합니다。

연구 개발

• 시간해결뿐만아니라진폭(AM)및위상변조(PM)분광기(단계스캔/빠른스캔/인터리브TRS)에대한연속및단계스캔기술
• 초고진공의ft-ir분광법
• 전극` ` ` ` `면및전해질의시상조사를위한ft-ir분광화학
• 물에서단백질의조사(confocheck)
• 분자의절대구성의결정(vcd)

제약

• 열분석(tga-ft-ir)을통해의약품제품의정성및휘발성함량의특성화
• 원적외선역에서활성제약성분의다형성분화(브루커fm)

폴리머및화학

• 원적외선역(Bruker FM)의폴리머복합재에서무기필러식별
• 폴리머의동적및레오광학연구
• 열분석(tga-ftir)에의한휘발성화합물의측정및분해공정의특성화
• 반응모니터링및반응제어(mir섬유프로브)
• 무기미네랄및료식별

通讯录면분석

• 얇고단층의검출및특성화
• 편광변조(pm-irras)와결합된通讯录면분석

재료 과학

• 광학및고반사재료의특성화(창문，거울)
• 사진음향분광기(pas)에의해어두운재료와깊이프로파일링의조사
• 재료의발광행동의특성화

반도체

• 품질관리를위한실리콘웨이퍼의산소및탄소함량측정

외부액세서리，소스및검출기

顶点70 v진공분광계에는5개의빔출구포트와2개의빔입력포트가장착되어있으며외부측정액세서리,소스및감지기로시스템을쉽게업그레이드할수있습니다。여기에는다음이포함됩니다。

• VCD및PM-IRRAS용Pma 50편광변조액세서리
• Pl ii광발광모듈
• Ram ii ft -라만모듈과라만스코프iii ft -라만현미경
• Tga-ft-ir커플링
• 하이페리온시리즈ft-ir현미경
• 하이페리온3000 ft-ir이미징시스템
• HTS-XT높은처리량스크리닝扩展
• Imac초점평면배열매크로이미징액세서리
• 외부샘플컴파트먼트xsa，대피또는제거가능
• 외부진공단단한特高压챔버적응
• 진공pl / pt / pr측정장치
• 고체및액체용mir또는nir광섬유프로브가있는광섬유커플링유닛
• 큰 통합 구
• 자동샘플러장치

• 외부FIR Hg소스
• 독특한넓은범위의mir-fir빔스플리터및검출기(브루커fm)
• 외부배출어댑터
• 외부고성능mir소스
• 외부진공4위치검출기챔버
• 枞树범위의검출을위한볼로미터적응