INVENIO®
특징
INVENIO®
INVENIO는일상적인품질관리에서고급연구개발에이르기까지혁신을위해만들어졌습니다。생산성,정밀도에초점을맞추든,광범위한규정을준수해야하는경우INVENIO는모든면에서귀하를지원합니다。
혁신의이점
- 소음에높은신호를위한새로설계된빔경로
- 가장빠르고효율적mft - ir분석을위한임베디드터치스크린pc(선택사항)
- 두개의IR설정(过境TM)의병렬가용성을위한두번째샘플컴파트먼트
- MultiTectTM기술은5개의검출기를추가하여총7개의내부검출기를허용합니다。
- 완전자동화된다중스펙트럼범위분광학을위한0.085厘米－1해상도및3배빔스플리터체저가있는선택적정밀한일체형TM간섭계
- 새로운SoC전자장치는분광정밀도와낮은에너지소비를제공합니다。
- 독특한브루커fm은한번의이동에서mir및fir을측정합니다。
- Fir에서vis / uv로확장가능하고시간해결된분광법
구사항변경，invenio적응
응용프로그램은사물의척도이며invenio는귀하의노력에당신을지원합니다。분석구가가하면invenio는계속유지됩니다。그것은당신이당신의매일분석작업에필한견고한기초입니다。
우수한감도
최첨단SoC전자제품으로제어되는새로운효율적인빔경로설계와정밀광학으로INVENIO는최고의성능을제공하고가장작은스펙트럼세부사항을보여줍니다。
강력한소프트웨어
Ir분석을위한가장강력한소프트웨어솔루션중하나作品는측정절차를간소화하고红外초보자와전문가를지원하며방대한방법생성툴셋을제공하며샘플평가를위한확장된기능을제공합니다。
항상유효성을검사
INVENIO는규제된제약실험실에서기기검증을위한완전자동화된PQ(성능자격)및OQ(운영자격)루틴으로준비됩니다。
품질 경험
力量는내구성이뛰어난하우징부터특허받은마모가없는고정밀간섭계설계에이르기까지모든단일부품에프리미엄소재를사용합니다。Invenio는오래도록제작되었으며수년동가용성을제공합니다。
자신을제한하지마십시오。
- 언제든지업그레이드하고스펙트럼범위를확장합니다。
- 스텝스캔，신속한스캔및터리브TRS사용
- Fir에서vis / uv에이르는모든디테일을커버합니다。
- 액세서리，검출기및빔스플리터를몇초만에변경
- Tga，현미경또는배출분석등에외부모듈사용
- 향상된분석가능성을위한ft -라만모듈
- Gmp, GLP및21 CFR부품11규정준수
더많은분석
INVENIO를거의모든샘플유형과전환시음액세서리와몇초만에일치시키고두번째샘플컴파트먼트는두개의실험설정을병렬로사용할수있도록합니다。
노력 감소
항상최적의측정파라미터를보장하기위해모든중앙장치구성소는전자코딩됩니다。또한,옵션임베디드터치는电脑놀랍고직관적인사용자경험과최첨단연결기능을제공합니다。
사용되는기술은다음특허중하나이상으로보호됩니다:us 7034944
Ft-ir분석
Invenio는놀라운ft-ir성능으로일일qc작업을단순화할것입니다。옵션터치PC,무선연결기능,우수한분광성능,혁신적인SoC -전자장치및장수구성요소는INVENIO를특별하게만드는것의작은부분일뿐입니다。
더나은ft-ir스마트qc
INVENIO의터치스크린PC(선택사항)는직관적인사용자인터페이스와스마트연결기능을제공합니다。랩에서측정하고，사무실에서평가합니다-케이블이나수동데이터전송없이모두。미리정의된워크플로우는몇가지상호작용에대한작업자의노력을최소화하고기능은손상되지않습니다。
신뢰할수있는。효율적。생산성。
기본QC / QA에서까다로운연구응용프로그램에이르기까지표준ATR장치,특수다각반사장치또는이미징현미경을활용하든상관없습니다。간단한분석과최적의측정결과를믿을수있습니다。
언제나신뢰할수있는qc
PermaSureTM은항상적절한기능을보장하기위해장치구성과신속한자체테스트를모니터링하며,PerformanceGuardTM은모든기계및전자부품에대한지속적인모니터링을통해최적의계측기성능을보장합니다。
유연한ft-ir
많은시간을절약하고항상전용米尔壳体검출기가있는독립적인두번째샘플구획인过境TM채널로두개의실험용설정을준비하십시오。
규정및규정준수
- 자동화된oq및pq
- 글로벌감사트레일및스마트보관
- 21 CFR파트11을포함하여GMP / GLP,摩根大通,Ph.Eur및USP를완전히준수합니다。
간편한확장성
- Ft-ir이미징및현미경검사법(하이페리온)
- 높은처리량측정(hts-xt)
- 물에서단백질분석(confocheck)
- 열역학분석(tga)
임베디드터치PC
- 신속한분석을위한미리정의된워크플로우
- Ft-ir초보자에게적합
- Ft-ir전문가를위한무제한액수
- 무선연결기능활성화
최고의소프트웨어솔루션
- 作品는진동분광법을위한올원솔루션입니다。
- 직관적护栏护栏터페이스및방법생성도구
- 광대한스펙트럼참조라이브러리
혜택
- Vis / uv에원거리，중견적외선，적외선까지전체스펙트럼범위를커버하십시오。
- 스펙트럼해상도및0.085厘米1로이용 가능
- 측정>초당70스펙트럼@16cm－1해상도래피드스캔
- 낮은나노초범위까지시간해결측정을위해스텝스캔적용
- 높은신호에서노이즈에대한새로운빔경로설계
- 최대7개의내부소프트웨어제어검출기
- 최대2개의입력포트와3개의출력포트
- 샘플에완벽하게적응할수있는다양한액세서리
- 고급측정설정을해결하기위한수많은외부모듈
- 스펙트럼품질을더욱향상시키기위한정밀전자장치
발견。개발。개척자。
Invenio는연구에전념하고있습니다。멀티텍TM, RockSolidTM간섭계또는자동빔스플리터체저가있는일체형TM간섭계，브루커fm，래피드스캔，스텝스캔，터리브TRS및물론트랜짓TM채널과같은기능을통해뛰어난ft-ir분석을수행할수있습니다。
독특하고흥미진진한:멀티텍트TM
INVENIO는최대5개의자동화된실온또는열안정화검출기요소를위한고유한검출기기술을갖추고있습니다。이를통해하드웨어변경없이80cm-1 ~6000cm－1또는4000cm1 ~28000厘米1의스펙트럼범위를커버할수있습니다。－1추가DigiTectTM슬롯(예:LN2냉각검출기용)과전용中转TM검출기와함께최대7개의내부검출기를허용합니다。
브루커fm:귀중한
중단，자명，간단:그브루커fm。한실험에서80cm－1~ 6000厘米-1에서전체米尔및冷杉스펙트럼범위를커버하고,광학구성요소의힘든변화와스펙트럼의병합과과거의유물의병합。
간편한정밀도:일체형TM간섭계
자동3위치빔스플리터(bms)체저가탑재된신작트레틱TM간섭계는브루커의멀티텍TM기술과완벽하게어운합니다。MultiTectTM및소프트웨어제어소스옵션과함께冷杉에서VIS / UV에이르는전체스펙트럼범위는광학부품을수동으로교환할필요없이완전히자동화된커버할수있습니다。
시간해결방법보기
스텝스캔,래피드스캔또는브루커의독점적인인터리브TRS와같은시간해결기술은빠른운동프로세스를연구하고해명하는데핵심적인역할을합니다。快速扫描을사용하고솔루션의화학반응과같은더깊은통찰력을얻거나Step-Scan을사용하여재현가능한실험을위해낮은나노초범위로내려가거의질문에답하지않습니다。
타의추종을불허하는시스템텔리전스및수많은확장
傅立叶变换红外光谱분석이전자코딩된창,내부감쇠기휠,배출바이패스,8배검증휠및선택적터치작동과같은스마트기능의이점을누릴수있습니다。현미경,라만또는PL모듈,TGA커플링,외부샘플구획등과같은거의모든확장기능으로INVENIO를업밸류에이션합니다。
응용
베니오응용프로그램
수많은ft-ir응용프로그램이있습니다。INVENIO는모든시나리오에완벽하게적합하여고감도,스펙트럼또는시간적해상도(안정성,유연성및업그레이드가필요했습니다。모든산업또는연구응용분야에서일상적분석경험을개선하십시오。
품질 관리
- 들어오는상품의검
- 제품결함문제해결
- 알수없는오염물질의식별
재료특성화
- 휘발성부품의결정
- 분해공정의특성화
- 광학재료의특성화
반도체
- 실리콘웨이퍼의산소및탄소함량측정
- Ir스펙트럼범위근처에서광발광측정
연구 개발
- 시간해결분광기
- Ft-ir분광화학
- 저온 실험
- Ft-ir현미경검사및이미징
- 시반응모니터링
- 진폭변조(am)분광법
제약및생명과학
- 의약품제품의정성과휘발성함량평가
- 활성제약성분의다형성을구별
- 단백질형태및농도
- 미생물식별
폴리머및화학물질
- 폴리머복합재료의무기충전제식별
- 무기미네랄및료식별
- 다층 분석
- 구성 조사
- 반응모니터링및반응제어
- 폴리머의동적및레오광학연구
- 다양한응용분야를위한ft -라만
환경
- 오염모니터링(예:미세플라스틱)
- 토양의특성화
사양
기술세부정보
Invenio는매혹적혁신으로가득합니다。우리는INVENIO가가장분석적인문제에대한보편적인해결책이라고믿습니다,그들은산업또는순전히과학적일수있습니다。
굳건한간섭계
RockSolidTM간섭계는진동또는열효과에구적으로정렬되고저항합니다。마모가없는피벗메커니즘과높은처리량설계는열악한환경에서도뛰어난감도(안정성및신뢰성을보장합니다。
신뢰할수있는소스
CenterGlowTM은브루커기술로소스의마모를관리하므로최적의성능을보장하고수명을연장합니다。또한내부조리개휠을사용하여두개의내부소스위치와두개의외부입력포트를사용할수있습니다。
최고수준의자동화-积分TM
신뢰성과편함。혁신적坐标系积分TM간섭계는매우정확한큐브코너미러와완벽하게재현가능한빔스플리터삽입을갖춘능동적으로정렬된부드러운BMS체인저휠의이점을누릴수있습니다。5 x MultiTectTM검출기기술，DigiTectTM검출기위치및여러소스옵션을결합한전체스펙트럼범위는28000厘米-1에서15厘米-1까지의전체스펙트럼범위는광학부품을수동으로변경하지않고도최적의성능으로커버할수있습니다。溴化钾、CaF2석영,다층,마일라및실리콘솔리드스테이트BMS와같은전체스펙트럼범위에대한다양한빔스플리터를사용할수있습니다。
MultiTectTM기술은壳体、InGaAs시다이오드및差距와같은5개의실온또는열안정화검출기를허용합니다。또한DigiTectTM슬롯을사용하면ln2냉각검출기와같은기능을사용할수있습니다。MultiTectTM장치는소프트웨어제어기능으로冷杉、NIR및VIS / UV측정에자동액세스할수있습니다。
언제든지업그레이드가능
분석요구가변경되고새로운분광기능이필요한경우INVENIO의모든선택적기능도나중에개조할수있습니다。
전체샘플링유연성
잠금및릴리즈버튼이장착된개선된QuickLock액세서리마운트는부피가큰샘플장치의삽입및고정을용이하게합니다。또한INVENIO에는여러외부모듈에대해3개의소프트웨어선택가능한출구포트가장착되어있습니다。
- 하이라이온시리즈ft-ir현미경
- 마이크로및매크로fpa이미징기술
- Ram ii ft -라만및pl ii광발광광모듈
- Tga-ft-ir커플링
- Pma 50, VCD및pm-irras용편광변조액세서리
- 사용자지정실험을위한가변외부샘플구획(왼쪽및오른쪽)
- 고체및액체용광섬유프로브가있는광섬유커플링유닛
- 외부통합구
- 액체자동샘플러
- HTS-XT，높은처리량스크리닝扩展
- 공기물터페이스반사장치
- 그리고더많은
추가 정보
문학실
관련문헌을다운로드하여제품및솔루션에대해자세히알아보십시오。
