维IconIR
最高性能，大样本纳米ir与PeakForce属性映射
하이라이트
维IconIR
Bruker的大样本尺寸IconIR系统将纳米级红外(IR)光谱和扫描探针显微镜(SPM)结合在一个平台上，为学术研究人员和工业用户提供最先进的光谱、成像和属性映射功能。结合数十年的研究和技术创新，IconIR提供了无与伦比的性能，基于和建立在行业最佳的AFM测量能力的Dimension Icon®。该系统使相关显微镜和化学成像具有更高的分辨率和单层灵敏度，而其独特的大样本架构为最广泛的应用提供了最终的样品灵活性。
大样本
最高性能的纳米红外光谱
跨样例类型和应用程序提供更高的灵活性和性能。
相关
化学和纳米级属性映射
提供定量的纳米化学，纳米机械和纳米电数据。
Sub-10nm
光热AFM-IR成像
使最高分辨率表征与单层灵敏度。
특징
独一无二的纳米红外性能和性能
在单个系统中，IconIR在纳米级红外光谱、化学成像分辨率和单层灵敏度方面提供了最高的性能。
只有Dimension IconIR提供:
- 高性能纳米红外光谱具有精确和可重复的FT-IR相关性，<10 nm化学分辨率和单层灵敏度
- 相关化学成像与PeakForce taps®纳米机械和纳米电模式
- 高性能AFM成像和无与伦比的样品灵活性，具有大样本调节*
- 最广泛的协调应用附件和AFM模式，包括新的表面敏感AFM-IR模式
*标准系统支持高达150毫米的样品，也可提供能够容纳更大样品的版本。
最完整相关显微术
结合布鲁克专有的PeakForce Tapping纳米级属性映射和专有的纳米ir光谱技术，Dimension IconIR系统的大样本平台特别适合于在电或化学反应环境中对材料和活性纳米级系统的相关研究，甚至是具有强烈机械异质性的复杂系统。雷竞技网页版
IconIR交付:
- 先进的定量属性映射技术
- 最完整的相关显微镜解决方案定量纳米化学，纳米力学，纳米电表征
环氧树脂中碳纤维的纳米化学(AFM-IR)图像
碳纤维在环氧树脂中的纳米热成像。
碳纤维在环氧树脂中的纳米电学(PF-KPFM)图像。
最高性能的纳米红外光谱
在PS-LDPE聚合物共混物的不同位置收集的高质量共振增强AFM-IR光谱，表明了高度的材料灵敏度和对纳米级材料性能的更深入的了解。
Bruker是光热afm - ir纳米红外光谱的创新者，拥有我们的专利，独特的纳米红外模式套件。这些模式使IconIR能够提供与FT-IR光谱相关的高速、高性能光谱。多种模式支持工业和学术用户的各种样品的测量。
IconIR交付:
- 最高性能，丰富，详细的光谱与FT-IR相关，实现单分子光谱雷竞技怎么下载
- 共振增强AFM-IR是纳米ir领域的首选技术，拥有最多的科学出版物
- 最高性能的攻丝AFM-IR光谱相当于共振增强AFM-IR
最高分辨率化学成像
Icon的行业领先的AFM性能和Bruker的专利敲击AFM- ir成像共同提高了我们纳米ir技术的空间分辨率和样品可及性，将其应用扩展到目前光热AFM- ir技术未解决的部分。
IconIR提供:
- <10 nm化学空间分辨率，可在广泛的样品类型(包括软样品)上成像
- 薄膜和生物结构成像的单层灵敏度
- 一致、可靠、高质量的可发布数据
- 聚合物薄膜的可靠表面敏感化学测量
PS-b-PMMA嵌段共聚物在AFM-IR模式下的高分辨率化学成像显示样品形貌(a);1730 (b)红外图像;和1492 cm-1 (c)分别高亮PMMA和PS。面板(b)中的黄色箭头表示化学分辨率<10 nm。覆盖图像(d)捕获组合映射。
最表层的化学洞察
在表面敏感模式下获得的表面涂层(绿色痕迹);在共振增强模式下获得的顶部涂层+散装薄膜(棕色痕迹)散装聚酰亚胺薄膜。
利用布鲁克的新专利表面敏感AFM-IR模式IconIR将化学探测深度从大于500纳米显著降低到数十纳米，同时消除了无缝结合高空间分辨率和高表面灵敏度化学成像的横截面需求。