XRM

재료과학을위한3d XRM

力量의3 d X선현미경(XRM)포트폴리오는다양한산업및과학응용분야의비파괴3 d이미징을위한턴키솔루션을제공합니다。여기에는주조,가공및적층제조의결함감지,복잡한전기기계어셈블리검사,제약포장,고급의료도구,지질학적샘플의다공성및입자크기분석및原位현미경검사가포함됩니다。

새로운차원의현미경

力量3 d X선현미경(XRM)은마이크로컴퓨터단층촬영(마이크로CT)하드웨어와전문소프트웨어를결합하여완전한현미경시각화솔루션에제공합니다。마이크로해상도벤치탑에서나노분해능플로어스탠딩기기에이르기까지力量XRM솔루션은사용편의성과전력의완벽한균형을제공합니다。

XRM을사용하면,지질표본의다공성측정부터제약정제의다중코팅두께또는회로의온칩및보드레벨상호연결구조에이르기까지신속한다중분석이가능합니다。XRM의비파괴적특성을통해부품무결성을검증하여적층제조와같은제조기술의QC를새로운수준으로끌어올릴수있습니다。

力量의소프트웨어는기술자와초보연구원을위한간단한푸시버튼인터페이스를제공하고,샘플과기술의경계를넓히려는전문가에게는탁월한깊이를제공합니다。재구성은최GPU신기반알고리즘으로수행되어짧은시간에대규모데이터세트의결과를제공합니다。포함된분석패키지를사용하면질적시각화와정량적회귀를모두허용합니다。

雷竞技网页版材料科学XRM规范

规范

SKYSCAN 1275

Skyscan 1272 cmos

SKYSCAN 1273

SKYSCAN 2214

外形尺寸(宽×深×高,mm)

1040 x 665 x 400

1160 x 520 x 330

1250 x 820 x 815

1800 x 950 x 1680

重量(不含可选电子设备)

170公斤

150公斤

400公斤

1500公斤

40 - 100千伏

40 - 100千伏

40 - 130千伏

20 - 160千伏

探测器

3mp平板

11mp CCD

16mp CCD

16mp CMOS

6mp平板

6mp平板

11mp大CCD

11mp中位CCD

8mp高分辨率CCD

最大样本量(直径,高度)

96毫米,120毫米

75毫米,80毫米

300毫米,500毫米

300毫米,400毫米

最小分辨率(体素,空间)

<4µm, <8µm

<0.45 μ m, <5 μ m

<3µm, <6µm

60 nm, <500 nm

测量,重建和分析软件

包括

包括

包括

包括

재료분석용XRM사양

사양

SKYSCAN 1275

Skyscan 1272 cmos

SKYSCAN 1273

SKYSCAN 2214

외부치수(宽x深x高,mm)

1040 x 665 x 400

1160 x 520 x 330

1250 x 820 x 815

1800 x 950 x 1680

중량(옵션전자장치제외)

170公斤

150公斤

400公斤

1500公斤

광원

40 - 100千伏

40 - 100千伏

40 - 130千伏

20 - 160千伏

미세검출능력

3 Mp플랫패널

11mp CCD

16mp CCD

16mp CMOS

6 Mp플랫패널

6 Mp플랫패널

11mp大CCD

11mp中位CCD

8mp高分辨率CCD

최대샘플크기(직경,높이)

96毫米,120毫米

75毫米,80毫米

300毫米,500毫米

300毫米,400毫米

최소해상도(3d화소,공간)

<4 μm, <8 μm

<0.45 μm, <5 μm

<3 μm, < 6 μm

60 nm, <500 nm

측정,재구성및분석소프트웨어

포함

포함

포함

포함

포지션,스캔,재구성…

포지션

샘플의실시간보기와능동적으로업데이트된기본스캔매개변수를통해빠른스캔설정을가능합니다。

스캔

방사선사진을실시간으로볼수있어측정모니터링을할수있습니다。전체시스템활용도를보장하기위해측정을일괄처리할수있습니다。

NRECON

GPU기반의최첨단알고리즘을사용하면,기존컴퓨팅시간보다훨씬짧은시간에3 d모델을재구성할수있습니다。