AFM模式

KelvinProbe微镜

高空间分辨率表面潜力测量

金属和半导出纳米结构用于从生物传感器到太阳能电池等各种设备中。研究人员有兴趣分析纳米结构、表面和装置的表面潜力,因为这些特性对局部化学和物理现象产生强烈影响。KelvinProbe力显微镜化高分辨率表面潜力和各种样本的地形映射

Bruker提供两种KPFM模式触摸模式TM技术类

  • KPFM(也称表层潜在模式)-Amlistem KPFM回馈振荡探针振荡变换
  • KPFM-FM:频调CPFM回调探针频率变化

上头峰值KPFMTM附属模式包括以上KPFM模式和基于Bruker专利的强大的KPFM模式峰值纹理®技术类

复合图像阵列二极管地形和表面潜力8m扫描