维FastScan®원자력현미경(AFM)시스템은특히해상도손실,힘제어손실,추가복잡성또는추가운영비용없이빠르게스캔하도록특별히설계되었습니다。FastScan을사용하면고성능AFM의예상되는고해상도로즉각적인AFM이미지를얻을수있습니다。관심영역을찾기위해샘플을조사할때> 125 hz에서스캔하거나,공기또는유체의이미지프레임1당초속도로스캔하든FastScan은AFM환경을재정의합니다。
维FastScan은샘플크기와는별개로해상도또는시스템성능을저하시키지않으면서초당프레임스캔속도를달성하는최초의유일한고속팁스캐닝시스템입니다。AFM, FastScan,,,,,,。PeakForce攻®결합된이시스템은선형제어루프를통해순간적인힘측정을달성하여단단하고평평한결정뿐만아니라점결함치수및기계적해상도를허용합니다。
와이드오픈팁과샘플액세스에서사전구성된소프트웨어설정에이르기까지维度FastScan의모든측면은문제없이놀라울정도로간단한작업을위해특별히설계되었습니다。빠른샘플탐색,빠른연결,빠른스캐닝,저소음,분당200点미만의드리프트속도,확장된직관적인사용자인터페이스및세계적으로유명한维度플랫폼이결합되어AFM에서완전히새로운경험을제공하는동시에결과및공개에더빠른시간을제공하는고품질데이터를보장합니다。FastScan사용자는전문가의일반적인작업시간없이즉각적인고품질의결과를얻을수있습니다。
샘플측량은이질성,고유한특징및기계적특성을이해하기위해알려지지않은샘플을탐색하는일반적인방법입니다。다음은FastScan샘플조사의결과이며,20μm면적의고해상도지형이미지에서원래스캔보다10배작은하위섹션에이르기까지고품질의이미지세트를생성했습니다。8분스캔의결과는여러채널16메의가픽셀의데이터로,고해상도데이터를명확하게관찰합니다。
具有更高的速度,更低的噪音,更大的AFM模式灵活性,NanoScope 6控制器允许用户利用我们的高性能尺寸和多模式AFM系统的全部潜力。这个最新一代的控制器提供了前所未有的精度,精度和多功能性的纳米级表面测量在每一个应用。
NanoScope 6独特地使布鲁克原子力显微镜能够:
타의추종을불허하는이미징모드제품군을갖춘力量는모든연구를위한AFM기술을보유하고있습니다。
핵심이미징모드(接触模式와开发模式)의근본을기반으로구축된力量는사용자가샘플의전기적,자기적또는재료특성을조사할수있는AFM모드를제공합니다。力量의혁신적인새로운PeakForce攻기술은지형,전기및기계적특성데이터를병렬로제공하는여러모드에통합된새로운핵심이미징패러다임을나타냅니다。
(2)、(2)、(2)、(2)、(2)、(3)、(3)、(3)、(3)、(3)、(3)、(4)、(3)우리의경험에서Fastscan이미지는다른AFM에비해해상도를저하하지않고4 ~ 5배더빠릅니다。또한지능형자동스캔매개변수조정을갖춘ScanAsyst모드를사용하면많은샘플을쉽게빠르게스캔할수있습니다。우수한Fastscan AFM성능DNA나은노기술연구에서많은간행물로우리그룹의명성을향상시켰습니다。