테스트및표면측정

3 d광학프로파일러

3 d표면측정및검사분야의세계적인선두업체

概述

快速、非接触三维光学分析

力量是业界领先的三维表面测量和检查供应商的解决方案,提供系统的快速、可靠和易于使用的非接触式与最佳精度分析样本大小从微观MEMS整个引擎块。他们提供了研究人员和工程师在研发、制造、质量控制精度所需的行业领先的敏感性和稳定性三维表面测量应用程序和环境挑战其他计量系统。

基于十代专有Wyko®白光干涉法(WLI)技术和力量的进步,我们的光学分析计量系统的支持尖端研发、QA和QC实验室和世界各地的生产环境。

제품

3 d광최고의학프로파일러알아보기

台式模型

台式三维光学表面光度仪

落地式模型

落地式3 d光学表面光度仪

^_新contourx - 1000

Self-calibrating,完全自动化解决方案的研究和生产

^_新npflex - 1000

最灵活的大样本精密制造业解决方案快速、自动的粗糙度和表面纹理测量

ContourSP

대용량,고정밀PCB생산제어를위한大面板계측시스템

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HD9800 +

데이터저장산업용대형포맷표면프로파일링시스템

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응용프로그램

表面积计量与特定于应用程序的解决方案

精密工程

保持高精密度的表面纹理和几何尺寸零件严格规范范围内。我们gage-capable测量系统提供有效的反馈和报告监控,跟踪和评估过程和评估GD&T的一致性。

微机电系统和传感器

进行高通量、高重复的腐蚀深度、膜厚度、阶梯高度,和表面粗糙度测量,以及先进的MEMS的关键尺寸测量和光学微机电系统。光学分析可以描述设备整个生产过程从晶圆到最终测试,甚至通过透明的包装。

骨科、眼科

获得精确的、可重复的测量植入材料和组件通过完整的产品生命周期。雷竞技网页版" WLI光学profiler支持研发、QA和QC分析,应用程序从透镜的表面参数的表征和注塑模具表面光洁度验证和磨损的医疗设备。

摩擦学

测量、分析和控制的影响摩擦,磨损、润滑和腐蚀材料/组件的性能和寿命。确定定量穿参数和执行快速的通过/失败检查广泛的光泽,光滑或粗糙的表面。

半导体

提高产量和降低成本两个前置和后端与自动化生产流程,非接触式、圆片规模计量系统。执行post-CMP模平面度检查;凹凸高度、共面和缺陷识别和分析;和测量组件结构的临界尺寸。

光学

更好地了解缺陷的根本原因,优化抛光和完成过程精确和可重复的sub-nm粗糙度测量。我们的非接触式测量系统启用符合日益严格的规范和ISO标准为样本,从小型非球面和自由的光学、光学组件和复杂的几何图形,衍射光栅和微透镜。

리소스