现场SEM纳米机像
基于力反馈样本表面地形成像
布鲁克行业领先Hysitron®扫描探针显微镜现可用现场扫描电子显微镜Hysitron PI89SEM识别码.通过使用批量扫描级闭路控制传感器,小技巧可快速用纳米精度相对于样本使样本表面的地形成像 基于力反馈
SEM图象散装金属玻璃现场纳米缩放SPM现场纳米缩进跨缩进剖面可量化堆积体积和滑动带生成阶梯
SEM图象散装金属玻璃实位抓取SPM实战微插图跨抓取剖面可量化叠积体积和滑动带生成阶梯
地表特征可高清晰度观察SEM二级电子成像,但获取量化地形数据则具有挑战性。SPM用同一种探针映射样本表像执行缩进测试提供精确高度特征信息以及相关参数,如表面粗糙度能力还特别有助于分析测试后变形,例如测量纳米缩进和抓取轨迹堆积或沉入
