2D电容传感器

布鲁克二维电容传感器技术使单测试头合并纳米缩进和纳米抓取测试能力二维传感器正常方向和横向方向提供超敏捷力和偏移测量法,以量化纳米级机械和三角特征以抓取模式操作二维传感器可实现单个微结构、接口和超深胶片局部摩擦测量斜力抓取2D传感器是量化膜/基对接属性的常用方法

Bruker二维传感器正常方向和横向方向均使用静电感应传感器技术实现最大度度度敏度通过不要求噪声机动级平面翻译,表层三角属性可可靠地测量纳米计至千米尺度