高分辨率现场SPM成像
高级纳米机测试结果
布鲁克是原地扫描显微镜成像的先驱,该成像直接由夫妇纳米机械学和纳米组织学特征描述高分辨率SPM成像现场SPM技术使用同样探针映射样本表面,用于测试,允许现场快速采集图像而不离开测试地点Bruker原位SPM成像自然提高精度、可重复性及测试速度,因为前位成像方法,如并行操作AFM等,需要更多时间将样本移到另一个成像场并带来与可靠定位相关重大挑战
10微米扫描大小 1024x1024分辨率 流星样本地形图像
垂直轴和横向轴的扫描大小和分辨率可独立改变:30mx30m扫描大小,256x256分辨率(顶部)60mx30m扫描大小512x256分辨率(底部)。
纳米计精度测试定位精度
Bruker现场SPM成像提供与测试相同的成像分辨率,使纳米级真正量化和精确定性成为可能测试场测试前SPM成像可直接测量表态(例如微结构、地形学、粗糙度)内含纳米分辨率,在测试前对避免表面缺陷至关重要雷竞技网页版高精度++10nm测试定位精度简化多相位材料测试并允许微结构直接相关形状、大小或域分布)转机械属性测试后SPM成像提供物质变形行为量化定性(例如骨折叠加验证测试定位
分辨率达4096x4096
布鲁克SPM+将纳米机械SPM成像能力提升到全新水平SPM+扫描大小图像解析完全可定制以满足具体样本分析需求
