液晶显示屏和光电
失效分析
缺陷分析CMOS传感器通过红外显微镜
光电设备的分析非常复杂,因为现代系统是高度小型化和由多种材料组成的。雷竞技网页版尤其是微污染物的识别是特别感兴趣,因为它们会导致电子设备的故障。揭示污染的起源,因此允许有效的故障诊断是关键的应用之一傅立叶变换红外显微镜。
它允许用户获得一个非常小的结构的红外光谱与高横向分辨率,从而揭示了化学成分的定义示例的一部分。这使得红外不可或缺的工具,质量控制和故障分析电子传感器和其他光电子学。它可以帮助描述缺陷、损坏、污染和更多。它甚至可以刺激产品开发描述红外传感器。
质量控制
与拉曼显微镜研究污染物在LCD面板
显示器、led、lcd和更多optoelectronical部分与防护层的聚合物层压或只是粘在格拉斯表面。在这两种情况下,这意味着如果材料是透明的,雷竞技网页版共焦拉曼显微镜有权看吗内部这样的程序集。
通常,很小的污染物,如颗粒、纤维、灰尘和污垢在这种类型的损害是罪魁祸首。拉曼显微镜不仅可以找到那些微小的杂质,它可以识别化学帮助发现这些产品缺陷的根源。用它来危害的分析:
- 屏幕和液晶总成
- Touchpanels
- 安装传感器
材料研究
传感器和探测器使用傅立叶变换红外光谱表征
探测器现在到处都是——智能手机、温度计、相机、电灯开关和许多其他设备。但在这些探测器可以开始他们的工作在我们的日常生活中,他们必须彻底的特点和优化。
这正是一个傅立叶变换红外光谱仪可以广泛应用,研究探测器的三个基本参数:
- 响应的频谱带宽(UV / VIS / IR /等等)。
- 辐射功率所需的反应
- 传感器的响应时间
应用傅立叶变换红外光谱在VCSELs对人脸识别的发展
垂直腔表面发射激光器(VCSEL)是一种特殊类型的半导体激光二极管,与传统边缘发射激光二极管发射垂直于芯片表面。这使得他们容易包作为发射器阵列与数以百计的发射器在单个芯片上,然后可以放置在一个智能手机(例如人脸识别)。
在分析VCSELs,傅立叶变换红外光谱已经被证明是一个更高级的方法相比,辐照度传感器和光敏二极管快。许多优点之一是可能确定发射光谱。目前,研究重点是VCSELs表征方法支持VCSELs理论建模的基础研究。你想了解更多吗?
相关的化学成分和微观结构与电子和光电特性
光电设备主要依靠光学刺激产生电脉冲,反之亦然。他们是常用的电子设备的传感器和探测器。
SEM-based EDS和EBSD技术是常见的分析工具结合使用调查相关的化学成分和微观结构与光学、电子和机械性能,这到纳米级。深入的知识与力量的先进解决方案是可行的改进算法、EDS、EBSD和跆拳道技术定量测量相位和方向分布。例如,它允许调查特定的晶体取向的影响,应变和晶粒或亚晶粒边界的性质光电性质。现场也可以进行相关性研究力量QUANTAX EBSD和HysitronπPicoIndenters系列。
