为了满足它的要求以后使用不同类型的材料混合或溶解在原始的玻璃。这个过程以及原材料分析可以监控x射线荧光分析(光谱仪)根据元素和通过荧光浓度范围S2彪马或WDXRFS6捷豹。
进行非破坏性分析最终状态的玻璃或金属涂层,或执行一个分析感兴趣的特定元素的空间分布,micro-XRF技术等M4龙卷风,M4龙卷风+或者是QUANTAX Micro-XRF为扫描电镜是适合分析方法。
如果需要更高的空间分辨率,扫描和透射电子显微镜(SEM、TEM)提供极高的分辨率和使用力量的机会QUANTAX系统执行能量色散谱(EDS无机材料分析)。使用wavelength-dispersive光谱仪QUANTAX改进算法具有挑战性的材料在低能量或光雷竞技网页版元素范围可以更好地确定由于其优良的能量分辨率和灵敏度光元素。使用SEM的基础QUANTAX EBSD电子背散射衍射系统,晶体取向地图可以获得了解晶体学和相位边界,并研究在材料变形。雷竞技网页版
准确的基本属性预测,传统的玻璃态x射线衍射(XRD)提供了合理的结构信息,玻璃没有远程秩序存在于晶体材料。µ-XRD与D8发现可以描述的夹杂物中发现玻璃,因为他们通常是由晶体材料。
经常生玻璃以及金属涂层由于各种原因。涂层防腐,表面变硬,可能反映了热辐射或任何其他类型的光,或者只是授予爵位底层材料。
掠入射x射线衍射(GID)D8提前可帮助确定明确的晶体组成的涂层。x射线反射计(XRR)micro-XRF技术使非破坏性测定层厚度,甚至地下一层。