半导体的研发

声子是固体样品中的量子化晶格振动，通常可以在远红外或中红外光谱范围内测量，例如通过反射光谱或透射光谱。声子能量、能带形状等可以揭示样品结构和质量的宝贵信息。布鲁克研究的FT-IR光谱仪可以覆盖极宽的光谱范围，特别是真空光谱仪是远红外声子光谱的理想选择。专用的样品室配件，包括低温恒温器适配，提供各种实验选择。

光致发光(PL)光谱是半导体研发的重要工具。由激光激发引起的样品发射可以深入了解带结构和载流子的细节。基于其FT-IR研发光谱仪，Bruker提供专用PL模块，具有各种选项，包括低温恒温器适配。对于中红外PL要求最高的情况，专用的真空PL模块适用于VERTEX 80v真空光谱仪，具有独特的步进扫描性能，是最强大的解决方案。

除了光致发光光谱，半导体的带隙、激子和其他电子特性的研究也可以通过透射光谱来完成。由于布鲁克FT-IR研发光谱仪的独特多功能性，这可以在非常宽的光谱范围内实现，从远红外甚至到VIS/UV范围。最高灵敏度，真空光谱仪与完全抽真空光学工作台，允许去到极限。专用配件可实现各种实验设置。

半导体异质结构是纳米结构，通常是周期性的半导体结构，如量子阱、超级晶格、量子点等。除了光致发光光谱，布鲁克FT-IR研发光谱仪的反射率或透射光谱也可以是有价值的工具。