XTrace 2 - micro-XRF在SEM的x射线源

增强micro-XRF在扫描电镜

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W
x射线管的权力
减少你的采集时间和高功率x射线的一代
自动对盘及成交系统
孔径管理系统
扫描地形和样品一个增强的景深,和选择6过滤器为进一步减少背景和增加微量元素检测
自动化
源插入和收缩模式
自动安全地插入和撤消x射线光学来源

XTrace 2

XTrace 2 -最新的扫描电子显微镜的x射线源

分析光与高能x射线和重元素很快!

确定小峰在复杂样品通过6过滤器的选择!

使用专利孔径扫描地形样本管理系统!

准确地分析粉末通过大光斑尺寸测量!

自动化分析过程与电动源插入和收缩!

XTrace 2 -先进的micro-XRF在扫描电镜x射线源

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