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分析光与高能x射线和重元素很快!
确定小峰在复杂样品通过6过滤器的选择!
使用专利孔径扫描地形样本管理系统!
准确地分析粉末通过大光斑尺寸测量!
自动化分析过程与电动源插入和收缩!
在这网络研讨会,我们将介绍XTrace 2中,一个新的x射线源micro-XRF SEM将其进一步分析功能比以往任何时候都要多。
XTrace 2扩展micro-XRF在扫描电镜的功能,允许更多种类的样本进行分析,如地形样本和非均匀样本。加入我们在这个网络研讨会探讨潜在的micro-XRF SEM XTrace 2在一系列不同的应用程序。
第四届研讨会在我们的“返璞归真”系列中,关注micro-XRF的基本面。
这个网络研讨会演示了的好处有micro-XRF源安装在你的扫描电镜从跨广泛的应用程序示例,包含两个元素分布映射以及量化,包括微量元素。
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