网络研讨会展示测量搭建和原位加热实验结果,并结合商业取暖TEM样本持有器和DENS解决方案EDS检测器布鲁克南诺分析
开发新纳诺芯片是为了在STEM内现场加热研究,优化以进一步提高平面稳定性并限制振荡效果,使高分辨率成像更容易实现此外,加热器设计可实现更高温度同质性并最小化功耗量并因此最小化释放红外线辐射EDS获取特别感兴趣,因为IR辐射干扰X射线信号检测
分能X射线光谱和地图均录入Ou/Pd纳米粒子温度达1000摄氏度IR辐射对X射线光谱的影响将详细讨论元素分布图显示布鲁克显示的原位蒸发和相位变化等现象ESPRIT软件.
网络研讨会将首先介绍新开发纳诺-芯片加热TEM样本持有器来自DENS解答并继续讨论Bruker高温获取EDS数据的挑战和结果
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博士maiken法尔克
Global产品管理员EDS/TEM,Brukernao分析
博士伊戈尔内梅斯
应用科学家EDSBrukernao分析
莫罗波尔库
营销管理器DENSSOUT
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