艺术与保护中的微x射线荧光新视野

扫描micro-XRF(由于具有大面积测量能力，通常也称为MA-XRF或Macro-XRF)已成为艺术与保护领域最突出的调查技术之一。微xrf绘图提供了物体中元素的化学可视化，为复杂样品(如绘画)的多学科评估提供了新的方向。布鲁克的发展M6的地方与代尔夫特理工大学合作，提供了大规模物体的空间分辨x射线荧光(XRF)分析，其功能是任何商用仪器无法比拟的。然而，尽管近年来微型xrf仪器和分析技术取得了进步，但原始仪器的功能显示出了局限性:在应用于具有地形起伏的物体(例如，绘画、雕塑、雕像的曲面)时;在大范围内实现高累积计数所需的长扫描时间;以及标准x射线管配置导致不利的x射线线重叠，分析环境可能导致对敏感物体的损坏(例如真空)。

在本次网络研讨会上，我们将介绍Bruker开发的微型xrf技术的最新进展，以解决这些限制，以及它们如何提高艺术与保护领域的人员询问文化遗产对象的能力。这些进步包括孔径管理系统(AMS)的开发，这是布鲁克的专利选项，最初可用于M4龙卷风+现在也可以M6的地方．布鲁克AMS减少光束发散，因此在测量过程中增加了有效景深(或焦点)，允许以高空间分辨率测量具有几厘米地形起伏的物体。

第二个发展是引入了双探测器版本的M6的地方这样可以提高累积计数强度，从而减少扫描时间。新的双探测器系统已成功部署于“操作守夜阿姆斯特丹国家博物馆的活动，增加了数据统计，减少了这幅非常大的画作的样本测量时间。进一步的发展导致了一种系统能够处理和传输每秒超过50万次计数，同时保持高光谱分辨率，与早期仪器相比，统计数据提高了四倍，而不增加样品的辐射剂量。

最后，网络研讨会将介绍正在进行的为Bruker的微xrf扫描产品增加新功能的开发工作。为了记录和保存，人们特别注意对褪色的历史照片图像进行分析。x射线线重叠(例如，在低水平Ag-Lα上的Rh-Kα和Ar-Kα)使得使用标准仪器配置进行分析变得困难。此外，在真空下分析以消除Ar重叠会导致敏感照片的损坏。新增配置M4龙卷风正在测试不同类型的阳极，多种测量条件，和不同的气氛设置，有希望的结果。

如果您有兴趣了解更多关于这些应用程序并讨论它们的未来，我们邀请您参加我们的网络研讨会。

• 艺术、保护和考古领域的Micro-XRF用户
• M4 TORNADO和M6 JETSTREAM软件的用户对高级数据评估选项感兴趣
• 收藏经理和修复人员处理摄影材料雷竞技网页版