D8发现+
XRD超过预期
Najważniejsze informacje
D8发现+最强大的和最多才多艺的x射线衍射仪的市场。
核心的高精度ATLAS测角仪主机高效涡轮x射线源(TXS-HE)和市场领先Non-Coplanar手臂。
它是专为各种材料的结构表征粉末、非晶和多晶材料在环境外延多层薄膜和non-ambient条件。雷竞技网页版
应用程序:
- 阶段识别和量化、结构确定和细化、微观应变和晶粒度分析,
- x射线反射计、掠入射衍射(GID),平面衍射,高分辨率的XRD、GISAXS GI-Stress分析晶体取向分析
- 残余应力分析、纹理和极微x射线衍射,广角x光散射(蜡),
- 总散射分析:布喇格衍射,Pair-Distribution函数(PDF),小角x射线散射(粉煤灰)
市场的画廊
Cechy charakterystyczne
关键特性
Non-Coplanar手臂
D8发现+可以配备Non-Coplanar臂执行平面衍射测量与无与伦比的性能。
- 访问2θ的范围高达160°d-spacing无与伦比的精度的决心。
- 无与伦比的精度有直接角编码器。
- 专用的光束路径组件增加测量强度来获得信号甚至超瘦的多晶薄膜。
- 在DIFFRAC无缝集成。在DIFFRAC套件软件和。达芬奇为最大化效率。
阿特拉斯™测角仪
在x射线衍射准确样本分析的基础是测角仪和安装组件的精确定位,特别是同时测量。ATLAS测角仪完全满足这些需求的设计和设置基准角和空间精度:
- 健壮、不需维护的测角仪
- 高精度步进电机与高分辨率光学编码器
- 精确和软件监控接口安装组件
D8发现加上配备ATLAS测角仪带有一个力量中心——AXS通用一致性保证:∆2θ角偏差的测量和认证的峰值位置2θ≤0.007°。这是通过测量验证NIST认证标准SRM1976每个乐器。
TXS-HE x射线源
是否关键指标的分析x射线数据质量工具,定义为信噪比或signal-to-background,或样品处理量,一个常数是多个信号始终是一个优势。
高效率涡轮x射线源(TXS-HE)被设计来提高信号同时最小化维修与旋转阳极技术有关。
- 5乘以一个工业密封管的强度
- 行集中设置与无与伦比的焦斑亮度6千瓦/毫米2
- 理想与光学耦合强度最大
- 光束路径长度减少到最小化空气散射
阿特拉斯™测角仪
紧凑联电+ 150
探路者+光学
EIGER2 R 500 k
蒙特尔+专用光学
Aplikacje
除了高档衍射
薄膜分析
共面衍射
在共面实验中,源和探测器提高角相对于样品表面导致探测方向到样品表面。
- 掠入射衍射(GID)表面敏感结晶阶段的识别和确定的结构属性包括微晶大小和压力。
- x射线反射计(XRR)提取的厚度,材料密度和界面结构多层样本——从简单的基板高度复杂的超晶格结构。
- 掠入射x射线小角散射分析(GISAXS)
Non-Coplanar衍射
在non-coplanar实验中,源和探测器角相对于样品表面是固定的,与探测器朝着一个方向平行于样品表面导致探测方向沿样品表面。
- 平面掠入射衍射(IPGID)降低了纳米的穿透深度,使表面隔离和增加灵敏度和原子层厚度。
- 多晶IPGID允许平面微晶尺寸的确定
- 外延IPGID允许直接测定平面晶格参数和平面取向。
雷竞技网页版材料研究
ATLAS测角仪增加角和真实空间定位精度的分析允许大规模测量的微型区域样本。实现一种新的衍射仪结合对称分流IµS蒙特尔+和多模EIGER2 R系列探测器,导致光束质量和检测能力在beamlines类似发现。
- 掠入射衍射(GID)表面敏感结晶阶段的识别和确定的结构性质与微晶尺寸和压力。
- x射线反射计(XRR)提取的厚度,材料密度和界面结构多层样本——从简单的基板高度复杂的超晶格结构。
- 高分辨率x射线衍射(HRXRD)外延生长的分析样本结构:层厚度、压力,放松,mosaicity,混合晶体的成分分析。
- 压力和纹理(择优取向)分析
- 广角x射线散射(蜡)
粉末衍射
粉末衍射(XRPD)涵盖了范围广泛的应用在样本低程度的取向。D8 +带来XRPD发现到一个新的水平与阿特拉斯精密测角仪。通过改善精度超出了业界领先的D8测角仪,D8 XRPD分析发现+允许研究人员发现小结构未观察到的细节。装备的D8发现+ TXS-HE允许收购XRPD数据超过5倍的速度比传统的管系统。
结合强大的DIFFRAC。套件软件the D8 DISCOVER Plus enables the simple execution of PXRD application like:
- 识别阶段
- 相位量化
- 结构解决方案
- 对分布函数分析(PDF)
- 小角x射线散射(粉煤灰)
应用画廊
µXRD与2 d检测器
平面衍射
倒易空间映射
Specyfikacje
D8发现+规范
| 规范 | 好处 | |
| 捻管 | 简单的点和线之间切换焦点 可用阳极:铬、铜、钼、银 Max。权力和长丝:3千瓦(0,4 x²16毫米),这取决于阳极材料 专利:EP 1 923 900 B1 |
快速改变波长完美匹配不同的应用程序 最快之间切换线和点关注更广泛的应用和更好的结果在较短的时间 |
| Iµs微焦点源 | 电力负荷:50 W,单相电源 蒙特尔蒙特尔+光学结合并行和聚焦镜。 梁尺寸下降到180 x 180µm²。 最大累积通量8 x 10⁸cps镜子退出。 光束发散度为0,5 mrad |
毫米大小的梁高亮度和超低的背景 绿色设计,低功耗,没有水消耗和延长生命的组件 优化波束形状和分歧,等待最好的结果 |
| TXS-HE x射线源 | 紧凑和轻设计垂直ATLAS测角仪 行集中,0.3 x3毫米² 焦Brigthness 6千瓦/毫米² 阳极材料:铜雷竞技网页版、Co、铬、钼 Max。电压50 kV,马克斯。权力取决于阳极材料:Cr 3.2千瓦,铜/钼5.4千瓦,Co 2, 8 kW Pre-Aligned钨丝 |
高通量x射线源,允许水平安装示例。 5倍的强度标准相比,陶瓷x射线源。 非常适合线和点集中的应用程序 Pre-Aligned灯丝允许快速灯丝交换用最少的变更要求。 |
| 三个光学 | 软件按钮切换: 机动发散狭缝(Bragg-Brentano) 高强度Ka1 2平行光束 高分辨率Ka1平行光束 专利:US10429326、US6665372 US7983389 |
全自动电动切换6不同梁几何图形不需要用户手动干预 非常适合所有样本类型包括粉末、散装材料、纤维、床单和超薄薄膜(非晶,多晶和外延)雷竞技网页版 |
| 高分辨率单色仪 | 通用电气(220)和通用电气(004)反射对称和不对称的几何图形 2-bounce和4-bounce(巴特尔类型)单色仪 通过提前Alignment-free安装。锁定技术 |
广泛选择最佳分辨率与强度平衡来获得最好的结果。 单色仪的快速交换优化不同的样品 |
| 阿特拉斯™测角仪 | 垂直测角仪设计与执行力学TXS-HE x射线源 业界领先的角精度:±0.007°2θ保证整个角范围确定在1976年NIST SRM D8系列组件的无缝集成,包括光学、定位相机,样品阶段,nonambient和探测器技术 |
无与伦比的准确度和精密度所体现的力量的独特定位的保证 绝对维护自由驱动/传动装置与终身润滑机制 支持的应用程序来生成最高精度的数据 |
| Non-Coplanar手臂 | 第三轴测角仪为研究超薄层平面样本属性: 分钟步长:0.001° 马克斯。2θ的范围(根据配置):160° 自动检测探测器距离 |
无与伦比的精度有直接角编码器 在DIFFRAC无缝集成。套件软件 160°2θ范围最精确Non-Coplanar结构的决心 实时校准EIGER2探测器 |
| 紧凑联电阶段 | 紧凑联电+ 80: 快速转轮XRPD Max。(x, y)翻译:+ / - 40毫米 Max。样品高度:57毫米 紧凑联电+ 150: Max。(x, y)翻译:+ / - 75毫米 Max。样品高度:57毫米 真空和电动引线为晶片查克和倾斜阶段 |
无缝切换薄膜研究和粉末衍射模式 5位置样本改变51毫米直径 9位置样本改变32毫米直径 2 - 4“晶圆的映射 6 - 8“晶圆的映射 反射模式96板的能力 允许无限φ旋转连接Tilt-stage和真空不需要照顾电缆或真空管道。 |
| 为中心的欧拉摇篮(CEC) | 五自由度样品阶段: x, y的样本翻译+ / -40毫米 z驱动器为高度对齐 φ360°旋转自由。 Psi驱动器和角范围从-11°- 98° Max。负载重量:1公斤 不同阶段可用附件。 |
压力和纹理测量side-inclination模式更准确的结果。 自动映射能力(x, y)。 机动tilt-stage表面精确对齐。 粉或毛细管纺纱允许粉末衍射。 刺刀样品阶段保持者快速和可再生的交换与其他阶段。 |
| 探路者+光学 | 软件按钮切换: 机动狭缝 2-bounce Ge分析仪 自动吸收器集成 |
全自动,电动切换两种不同光学不需要用户手动干预。 保持全面的视野LYNXEYE探测器。 吸收器确保线性测量数据 |
| LYNXEYE XE-T | 能量分辨率:< 380 eV @ 8凯文 检测模式:0 d, 1 d, 2 d 波长:Cr、Co、铜、钼和Ag) 专利:EP1647840、EP1510811 US20200033275 |
不需要Kß过滤器和次要的单色仪 100%的过滤与铜Fe-fluorescense辐射 比传统的探测器系统快450倍 Bragg2D:收集与发散一次线光束二维数据 独特的探测器保修:任何有缺陷的渠道交付时间 |
| EIGER2 | 最新一代多模(0 d / 1 d和2 d)探测器基于混合光子计数技术,由Dectris开发有限公司 | 无缝集成的0 d, 1 d和2 d检测步骤,连续和先进的扫描模式 人体工程学,alignment-free探测器旋转优化γ或2Θ角覆盖 使用完整的全景,tool-free衍射光束光学探测器的视野 连续变量探测器定位平衡角覆盖和决议 |
| Non-ambient | 温度:从~ 12 K ~ 2500 K 压力:10 -⁴mbar多达100条 湿度:5% - 95% RH |
调查环境和non-ambient条件下 容易与DIFFRAC.DAVINCI交换阶段 |
Akcesoria
XRD组件
力量XRD的解决方案包括高性能组件的配置以满足分析要求。模块化设计是关键配置最好的仪器。
所有类别的组件是力量的关键能力的一部分,由力量研发生产中心——AXS,或与第三方供应商密切合作。
力量XRD组件可用于升级安装x射线系统改善他们的表现。
