vantec - 500探测器
Najważniejsze informacje
突出了
vantec - 500大视场2 d检测器
vantec - 500探测器的核心技术是下一代的2 d XRD系统通过结合经典x射线胶片的最好特性和电子单x射线光子检测。其巨大的探测器面积超过15000毫米²抓住尽可能多的二维信息经典电影摄像机在短短几秒钟。出色的计算统计数据是通过“看到”和单光子计数。由于自营MIKROGAP™技术vantec - 500可在高计数率而操作几乎没有噪声。的唯一来源背景是宇宙射线和放射性材料的自然,占据不到5 cps在整个探测器。因此,它非常适合强、弱散射的分析样本。
MIKROGAP设计结果在一个非常稳定的探测器,它是维护自由,对机械冲击或运动,可以承受密集和高能辐射没有损伤。由于丰富的经验和内部探测器的发展,vantec - 500是保证的,没有任何缺陷检测器的地区。
Cechy charakterystyczne
功能画廊
Korzyści
关键好处
MIKROGAP™技术
MIKROGAP探测器,网格,阳极,延迟线路和Xe-CO 2气体混合物包含在一个密封的容器入口铍窗。转换地区传入的x射线光子产生初级电子气体电离。这些电子漂移对高电场下的阳极。电子的数量成倍的放大的差距。这个信号放大到目前为止比任何固态探测器提供因此非常微弱的信号可以被检测到。每个X射线光子的位置是由X和Y读出条通过延迟。MIKROGAP技术的关键特性的存在电阻阳极允许非常薄的放大的差距,从而大大提高了当地的计数率。
大有效面积
2 d检测器,大小是最重要的特性。大型探测器窗口不仅可以提高数据采集速度,它还提供了信息,只是与0-D无法访问,一维或二维探测器小。vantec - 500探测器特性一个巨大的140毫米直径窗口,覆盖约80°(2θ)和一个大γ-range。探测器的灵活定位跟踪允许范围广泛的sample-to-detector距离为各种应用程序优化角覆盖和决议。这使您可以:
- 收集一些布喇格反射在大型γ范围在一个框架
- 同时测量几个极人物与背景校正
- 覆盖广泛的强调样品的衍射峰一枪
- 提高统计微样本的参差不齐的衍射图样
完整的硬件和软件集成
2 d的成功应用XRD方法需要一个智能和集成方法,在硬件和软件水平。
DIFFRAC。套件软件提供最优测量策略。提出优化的最佳设置数据收集在不同的几何图形。德拜视图允许您识别德拜具有类似属性的戒指在有污渍和质地方面,例如。只有德拜环相同的遥相关可以属于相同的结晶相。使用我们独特的搜索/匹配函数确定结晶阶段。其他软件的功能包括:
- 2 d x射线衍射测量方案和计划完全融入DIFFRAC。测量和DIFFRAC.WIZARD
- 本机支持DIFFRAC 2 d帧。纹理生成极人物和取向分布函数(odf)
- 残余应力在DIFFRAC.LEPTOS使用2 d模式完全支持
的硬件集成vantec - 500完全反映了达芬奇家具设计主体。
DAVINCI.MODE
- 即时组件注册特定属性
- 自动防故障装置定位
- 探测器距离自动识别
DAVINCI.SNAP-LOCK没有工具——改变组件
- 快速和简单的工具
- Alignment-free
- 变量定位在跑道上
DIFFRAC.DAVINCI
- 实时组件识别和状态显示
- 发现丢失,错误的或不合适的组件
- 参数化的固定和机动组件
Aplikacje
应用画廊
Specyfikacje
探测器的规格
| 规范 | 好处 | |
传感器类型 |
光子计数,Xe-based MIKROGAP™检测器(6340819年美国专利) | 最高的任何充气XRD探测器的整体性能 |
| 窗口大小 | 140毫米直径 |
在较小的探测器显示散射不可见的 快速检测时间 |
数量的像素 |
2048 x 2048(68µm), 1024 x 1024(136µm), 512 x 512(272µm) |
高分辨率清晰地显示密集散射或衍射特性 |
| 2Ɵ覆盖率和不同样本的距离 | 10厘米- 56°, 15厘米- 42°, 20厘米- 33°, 25厘米- 27°, 30厘米- 23° |
优化示例探测器距离覆盖和角分辨率 |
| 能量范围 | 3日- 15日KeV(铬、铁、Co和铜辐射) |
兼容大部分x射线衍射波长实验的灵活性 |
| 背景 | < 5 cps /整个区域(< 0.0005 cps / mm²) | 敏感的弱散射样品 |
| 辐射硬度 | 10₁₂x射线光子/ mm²(10₁₆光子总) | 易用性 |
| 维护 | 不是必需的 | 易用性和低拥有成本 |
