XFlash 6-10

核心块 最新一代X光检测器 是一个硅芯片 函数流槽原理

特殊芯片设计加集荷放大器^®可处理极高计数率并同时显示优能解析法,不为基于硅的任何其他散能X射线检测器所反射

简言之,XFlash^®6-10提供下列优异条件:

• 优能解析法有限版121eVmk
• 其余可用分辨率为MnKa
• 脉冲负载能力极高
• 极光元素和低能性能
• 无详解震动冷却系统
• 电源启动后立即可用
• 低运营成本
• 无维护操作
• 小维度,包括细线技术指针
• 低权

推荐区XFlash^®6-10为:

• EDS系统面向SEM、Microbe、FIB-SEM
• 光元和低能量范围分析