XFlash6-100
最大面积SDD用于低流应用
XFlash6-100检测器
异常情况需要特殊检测器®6-100为这种情况制作,在有限信号可用时使用。例如分析敏感样本或使用Cold-FEGSEM时使用。大百毫米2活动区和窄端帽提供最大固角并允许短时间获取光谱,即使在这些不利条件下也是如此并发XFlash®6-100计数率与小探测器相同最大达1500kcps输入),使它成为真正独特的EDS分析工具
简言之,XFlash®6-100提供下列优异条件:
- 好能解法(129eVMnKffa,57eVCKffa和67eVFK
- 脉冲负载能力极高
- 好光元素和低能性能
- 无详解震动冷却系统
- 电源启动后立即可用
- 低运营成本
- 无维护操作
- 小维
- 低重,包括细线技术指针
推荐区XFlash®6-100为:
- EDS系统面向SEM、Microbe、FIB-SEM
- 低波流敏感样本分析