7100年XFlash椭圆形
收集高角没有窗户的SEM、EDS系统FIB-SEM STEM-in-SEM
XFlash 7100椭圆的椭圆几何探测器法兰促进SEM EDS在高角度集合
这大面积,高角集合,没有窗户EDS探测器和一个椭圆形的100毫米2SDD SEM精心定制的特定几何。
独特的形状和国家艺术款超薄的线性设计允许优化采集位置实现x射线采集的立体角0.4 sr在不影响扫描电镜性能。
总之,XFlash®7100年总统提供了以下优点:
- 100毫米2区,没有窗户
- 固体收集角0.4 sr,适应不同
- 最大加速电压对所有SEM类型:30凯文
- 起飞角通常30°…35°
- 焊接波纹管和X-ray-tight快门(可选)
- 互不干扰的冷却系统
- 自动探测器收缩系统
- 优秀的光元素和低能量性能
- 所有优势力量的多才多艺分析软件
建议申请XFlash领域®7100年总统是:
高端元素分析在SEM, EDS FIB-SEM STEM-in-SEM针对:
- 低kV和梁敏感的样品
- 光元素分析
- 高空间分辨率
- 高速数据采集