XFlash 6 t-30

常规和畸变纠正TEM的中型SDD
XFlash 6 t-30探测器

的XFlash®6 t-30 S / TEM的探测器是最好的能量分辨率。由于其小直径(款超薄的线性设计)特别适合小空间的情况下可用EDS探测器,尤其是EDS改造旧显微镜。的多功能XFlash®6 t-30满足所有分析师的需要,从优秀的几何条件(最佳起飞和最好的立体角)分析性能(光元素或高计数率分析)。

总之,XFlash®6 t-30提供了以下优点:

  • 优秀的能量分辨率(126 Mn KαeV, 51电动车在F C Kα和60 eV Kα可用)
  • 其他可用分辨率为129 Mn KαeV
  • 极高的脉冲加载功能
  • 和低能量性能优良的光元素(元素范围是- Am)
  • 焊接波纹管作为标准
  • 没有vibration-generating冷却系统
  • 上电后立即
  • 不需维护的操作
  • 低运营成本
  • 小尺寸,包括款超薄的线性技术的手指
  • 低体重
  • 没有窗户的版本上可用的请求

建议申请XFlash领域®6 t-30是:

  • 所有类型的EDS分析了TEM和阀杆,包括畸变纠正电子显微镜