Micro-XRF光谱仪

M4龙卷风+

微xrf中的超轻元素

XRF映射到碳

he -吹扫敏感样品

母亲是żniejsze informacje

最低可测元素
从碳开始的所有元素都可以测量
> 6
毫米
AMS的聚焦深度
孔径管理系统(AMS)可以在地形样本上获得清晰的图像
0.5 - -4.5
毫米
可选择的准直器尺寸
附加管上的四位准直器变换器

革命性的超轻元素微xrf扫描仪

使用Bruker的micro-XRF家族的最新型号,您可以发现更多关于您的样品比XRF以前展示给您的。

凭借其超轻元素探测器,M4 TORNADO PLUS是第一款能够测量碳以上任何元素的微型xrf扫描仪。此外,所有轻元素的性能都大大提高。

在该仪器上,Bruker引入了专利孔径管理系统(自动对盘及成交系统),增强了多毛细管透镜的聚焦深度,以更清晰的元素映射不均匀的样品。可选的第二个x射线源进一步扩展了分析能力,其四个可选的光斑尺寸从0.5毫米到4.5毫米。

更轻、更快、更深。

M4 TORNADO家族的腔室为He-flush提供了一个选择。这增加了光元件的性能,同时保持了腔内的大气压。生物或湿标本中的轻元素可以在不需要冷冻或干燥的情况下进行分析。

M4 TORNADO PLUS:超轻元素微xrf光谱仪

Korzyści

受益于分析性能的PLUS

  • 测量固体,颗粒或液体的所有优点,久经考验的M4 TORNADO家族必须提供
  • 扩展您的微xrf经验,能够记录光谱,线扫描和从碳开始的完整元素范围的地图
  • 在HyperMap数据立方体中,每像素记录并保存光学图像和全光谱信息的组合
  • 通过聚焦x射线束与两个高通量超轻元素SD探测器的组合,减少您的测量时间
  • 使用可配置的基本参数例程或使用Bruker的XMethod软件进行标准支持的、完全基于标准的和层厚度量化,以获得快速量化结果
  • 利用光圈管理系统(自动对盘及成交系统)
  • 在仪器的整个生命周期内通过升级和服务包提高性能

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资源和出版物

出版物