比较AFM-IR s-SNOM

AFM-IR和s-SNOM是互补技术具有不同的优势。与nanoIR3-s,你可以选择一个配置一个技术或两个,根据你的样品和测量需求。AFM-IR直接检测光被样品吸收利用AFM探针尖端热膨胀。这热膨胀主要取决于样品的吸收系数,ks,很大程度上是独立于其他提示和示例的光学特性。AFM-IR技术因此首选的测量需要一个精确的吸收光谱。AFM-IR擅长软物质研究由于高热膨胀的这些材料。雷竞技网页版

s-SNOM探测光在纳米尺度区域直属AFM探针小费。散射场取决于复杂的光学常数的提示和示例,包含丰富的信息nano-optical现象。参考样本(例如,黄金或硅)需要单独的示例响应贡献源和小费。可能需要建模支持来解释结果。s-SNOM是一项引人注目的技术,用于成像纳米光学特性对比,与不同的应用程序在先进材料,设备和基本的光和物质的相互作用。雷竞技网页版s-SNOM交互的最适合硬质材料与光。雷竞技网页版