纳米红外光谱学

散射SNOM)

s-SNOM技术提供信息的复杂光学特性的纳米级区域样本

近距离红外散射扫描光学显微镜(s-SNOM)

这种技术提供了复杂的光学性质的信息下样品的纳米级地区镀金属小费。具体来说,光学散射光的振幅和相位都可以测量。用适当的模型,这些测量可以估计复杂的光学常数(n, k)的材料。此外,光学相位与波长提供了一个很好的近似传统红外吸收光谱通常掠入射。

s-SNOM技术适用于各种各样的材料,但最好的信号噪声往往是困难的材料具有高反射率、高雷竞技网页版介电常数、和/或强大的光学共振。力量的nanoIR3-s s-SNOM提供了理想的平台功能,不再需要复杂的光学校准:

  • 专利自适应波束调节和反射光学波长使广泛的兼容性而消除调整和调整在不同的波长
  • 专利的动态功率控制保持最优功率和信号在广泛的来源,波长和样品
  • Pre-mounted探测器和机动,样本和源探测器安装和重新对齐消除繁琐的步骤

10纳米化学成像空间分辨率和光谱

石墨烯等离子

s-SNOM相位和振幅图像的表面等离子体极化声子(SPP)石墨烯楔。(左)s-SNOM相线截面的SPP驻波;(右)s-SNOM振幅。上图是一个3 d视图的相位图像(左)。

高分辨率属性映射

通过石墨烯片横截面显示子10纳米分辨率成像光学性质。

最高性能纳米红外光谱

最高性能与最先进的红外SNOM光谱学nanoIR激光源可用。

  • 基于纳米红外光谱与集成脱硫,连续激光源
  • 宽带光源同步集成
  • Multi-chip QCL激光源光谱和化学成像
Ultrafast-broadband散射SNOM分子振动光谱探测信息。雷竞技怎么下载激光干涉图的聚四氟乙烯(PTFE)显示一致的分子振动的形式free-induction衰变时间域(上)。雷竞技怎么下载样本干涉图中突出显示的特性是由于跳动的对称和反对称模式氟模式产生的频域(左下角)。单层的敏感性nano-FTIR演示了在单层pNTP(右下角)。数据由马库斯·Raschke教授,科罗拉多大学博尔德。

结合S-SNOM和AFM-IR创建引人注目的新数据

Khanikaev et al ., Nat。通讯。12045 (16)。Doi: 10.1038 / ncomms12045

互补AFM-IR和散射SNOM图像显示,第一次在等离子光手性结构的微尺度的起源。通过访问辐射(s-SNOM)和无辐射等离子(AFM-IR)信息结构,独特的和补充电浆性能。

nanoIR3-s超出nanoIR可见光和太赫兹和同步加速器束

  • nanoIR3-s使可见SNOM成像
  • 系统支持太赫兹成像和光谱
  • 特殊的设计使用同步加速器
  • 容易改变激光设置测量时间最大化
  • 简单的交换的光学组件和探测器
可见成像s-SNOM使用633 nm HeNe激光。

不再需要复杂的光学校准

  • 专利自适应波束调节和反射光学波长使广泛的兼容性而消除调整和调整在不同的波长
  • 专利的动态功率控制保持最优功率和信号在广泛的来源,波长和样品
  • Pre-mounted探测器和机动,样本和源探测器安装和重新对齐消除繁琐的步骤