现病史维度
最有效的工业研发AFM
Najważniejsze informacje
现病史维度
专门设计用于大容量、生产环境维度HPI的AFM系统能够自动测量模式同时确保最大的易用性和最低的成本测量质量控制、质量保证和失效分析。使用接触、攻丝和PeakForce开发模式技术,维HPI使用户能够精确地控制probe-to-sample交互,提供长期与高精度的结果提示前世生活的成千上万的测量。
创新
PeakForce攻
减少侧向力的调查样本的保护,延长探针寿命,最一致的测量。
独家
FastScan AFM探针
每个测量提供最低成本和保证最可靠的数据。
易于使用的
自动化的软件
使每个用户AFM专家,确保操作员地一致性。
Cechy charakterystyczne
广泛的测量
从独家PeakForce开发模式与传统AFM模式,现病史维度提供了最大的范围和灵活性以满足特定的制造计量需要在一个广泛的样品,没有相关的复杂性通常AFM研究设置。
快Nanoelectrical计量
FastScan技术与Conductive-AFM (CAFM)可以执行纳米电流测量高扫描速率,显著提高失效分析测量的效率。使用小型磁力显微镜(MFM)悬臂,FastScan HPI提供了MFM大于10 x扫描速率的改进应用程序使用PeakForce攻异常数据质量。PeakForce KPFM™提供空间分辨率最高和最精确的测量表面潜力。PeakForce金枪鱼™提供了最敏感的电导率测量。
精确的纳米机械制图
力量的独特PeakForce QNM和FastForce卷™纳米机械机械properties-modulus映射模式可以精确的地图,刚度、附着力、耗散和变形,同时成像示例地形和电气性能。PeakForce QNM聚合物,使非破坏性测量薄膜、纳米缺陷不是由透射电子或可测量的扫描电子显微镜技术。
由毫微秒示波器6 AFM控制器
以更高的速度,降低噪音,和更大的AFM模式灵活性,毫微秒示波器6控制器允许用户利用我们的潜能和多模AFM系统高性能的维度。这个最新一代控制器提供了前所未有的精度、精度和多功能性纳米表面测量在每个应用程序。
毫微秒示波器6独特使力量afm:
- 在成像模式比经营与竞争系统是可能的,包括独特的和先进的AFM模式,需要复杂的控制和分析;
- 收集准确、定量数据nanoelectrical在每个应用程序和纳米机械特性的测量;和
- 优化和定制扫描参数,以满足即使是最苛刻的研究和工业测量的要求。
