横向力显微镜(lem)
摩擦信息易于接触模式成像
横向力显微镜(lem)来自联系方式成像。在接触模式下,垂直弯曲悬臂探针测量的扫描整个表面。通过测量悬臂梁的横向弯曲,信息可以确定样品的表面摩擦特性。
横向力可以从摩擦系数的变化产生一个地区样品表面或从发作变化的高度。lem因此用于测量表面材料的非均质性和生产具有增强的图像边缘的地形特征。雷竞技网页版
水单层薄膜制成的二十二烷酸的混合物(BA)和二苯二- (octadecylamino)溴化磷(DPOP)。
