PeakForce SECM
基于afm的扫描电化学显微镜
最后-一个完整的SECM解决方案
布鲁克的独家PeakForce SECM™模式是世界上第一个完整的基于afm的扫描电化学显微镜(SECM)商业解决方案。PeakForce SECM™的空间分辨率小于100纳米，可同时捕获具有纳米级横向分辨率的地形图、电化学图、电学图和机械图。这项技术从根本上重新定义了液体中电气和化学过程的纳米级可视化。
获得以前无法获得的电化学信息
(A) EC电流蒙皮覆盖的纳米网格电极(Au-SiO2)的三维形貌;(B) (A) Au-SiO2表面的形貌和电蚀变化曲线;和(C)纳米电极阵列样品的地形和EC变化的线剖面。纳米网格电极样品由C. Stelling和M. Retsch提供，拜罗伊特大学。图片由A. Mark和S. Gödrich提供，拜罗伊特大学。纳米电极阵列样品由M. Nellist和S. Boettcher教授提供，俄勒冈大学。
与传统方法相比，PeakForce SECM显著提高了几个数量级的分辨率。这加速了对储能系统(如锂离子电池)、腐蚀科学和生物传感器的研究，为单个纳米颗粒、纳米相和纳米孔的新测量打开了大门。
在液体中同时进行电化学、电气和机械测绘
在Au衬底上微接触印刷的ch3 -硫醇自组装单层(SAM)的PeakForce SECM图像:(A)形貌变化<1 nm;(B) PeakForce QNM粘附力;(C)提升高度为40 nm时的电化学活性。(B)和(C)定量显示Au和SAM区域之间的粘附力和电化学电流分别有700 pN和108 pA的差异。图片由A. Mark和S. Gödrich提供，拜罗伊特大学。
PeakForce SECM，由布鲁克独家提供PeakForce攻技术，独特地提供同步多维数据。只有PeakForce SECM允许在纳米尺度上将生物、化学和物理性质与形态结构相关联。
受益于专为SECM设计的可靠、易于使用的探针
(A)布鲁克独家预安装的PeakForce SECM探头提供简单和安全的操作，以及在数小时的成像和多次清洗周期中极其稳定的性能。(B)探头的SEM图像;(C) COMSOL模拟10 mM [Ru(NH3)6]3+剖面;(D)以20 mV/s的扫描速率从50个连续扫描中选取第1、25、50个cv;(E)与AgQRE相比，在-0.1 V下进行2小时安培测试，插入放大70至120分钟;以及(F)模拟(虚线)和实验(实线)逼近曲线。C和E图片由加州理工学院C. Xiang和Y. Chen提供。
Bruker的预安装PeakForce SECM探头提供简单安全的操作，优化的支架为敏感信号处理提供了电气稳定的架构。经过超过10小时的EC测试和多次重复清洗循环，探针性能非常稳定。
