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的发展TappingMode™使研究人员图像样本太脆弱,承受侧向力的联系方式和使用扫描速度远高于非接触模式下获得的。
TappingMode AFM是由轻敲Bruker-patented技术地图地形表面振动探头尖端。悬臂的振荡幅度与样品表面形貌变化,和获得的地形图像监视这些变化和关闭z反馈回路来最小化。
这个流行的AFM模式形成了许多先进的基础模式,如电力显微镜(EFM)和磁力显微镜(MFM)。