原子力显微镜

维FastScan

第一个也是唯一一个不妥协的高速AFM

母亲是żniejsze informacje

维FastScan

尺寸快速扫描®原子力显微镜(AFM)系统专门设计用于快速扫描,而不会损失分辨率,失去力控制,增加复杂性或额外的操作成本。使用FastScan,您可以立即获得具有高性能AFM预期高分辨率的AFM图像。无论您是在测量样品以寻找感兴趣的区域时以bb0 - 125Hz扫描,还是在空气或流体中以每图像帧1秒的时间速率扫描,FastScan都重新定义了AFM体验。

不妥协的
高速性能
提供最高的分辨率,任何时间,每次,独立于样本量。
实时
纳米力学
提供最终的尖端扫描速度和稳定性,以直接可视化空气或流体中的动态行为。
自动化
设置、数据采集和分析
使系统操作非常简单,同时提高工作效率,让您专注于您的研究。

Cechy charakterystyczne

特性

高速和高分辨率基准

Dimension FastScan是第一个也是唯一的高速尖端扫描系统,在不影响分辨率或系统性能的情况下实现每秒帧扫描速率-独立于样本量。没有其他高速AFM具有FastScan的大样本访问。再加上PeakForce攻®,该系统通过线性控制回路实现瞬时力测量,允许点缺陷尺寸和机械分辨率,而不仅仅是在坚硬的扁平晶体上。

方解石点缺陷分辨率刚度图像。图像尺寸为15nm(图1)。iPMMA薄膜的亚分子分辨率粘附图雷竞技怎么下载像。100纳米图像尺寸(图2)。样品由Thurn-Albrecht博士教授提供,Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg。

非凡的生产力

完全无人看管,自动化,完全自我优化成像六个不同的样品在十分钟内,产生出版质量的结果在每个情况下。

Dimension FastScan的每一个方面——从大开口的尖端和样品访问到预先配置的软件设置——都是专门为无故障而设计的,操作非常简单。快速样本导航,快速参与,快速扫描,低噪音,数小时内漂移率低于200 pm /分钟,扩展的直观用户界面和世界知名的Dimension平台相结合,在AFM中提供全新的体验,同时确保高质量的数据,更快的时间到结果和发布。FastScan用户可以立即获得高质量的结果,而无需通常的专家调整时间。

更多的应用程序和新的见解更快

样本测量是探索未知样本以了解异质性、独特特征和力学性能的常用方法。这是FastScan样本调查的结果,它产生了一组高质量的图像,从20 μm面积的高分辨率地形图像到比原始扫描小10倍的亚切片。一次8分钟扫描的结果是1600万像素的多通道数据,其中高分辨率数据被清晰地观察到。

研究在疏水处理的硅表面上驱动聚苯乙烯薄膜(<100nm厚)润湿和脱湿的力。
无定形药物配方研究,在60分钟内捕获60个位点。样品由M. E. Lauer, O. Grassmann, F. Hoffmann-LaRoche提供,巴塞尔,瑞士。

由NanoScope 6 AFM控制器提供动力


具有更高的速度,更低的噪音,更大的AFM模式灵活性,NanoScope 6控制器允许用户利用我们的高性能尺寸和多模式AFM系统的全部潜力。这个最新一代的控制器提供了前所未有的精度,精度和多功能性的纳米级表面测量在每一个应用。

NanoScope 6独特地使布鲁克原子力显微镜能够:

  • 与竞争系统相比,可以在更多的成像模式下操作,包括需要复杂控制和分析的独特和先进的AFM模式;
  • 收集准确的,定量的数据,纳米电学和纳米力学性能测量在每一个应用;和
  • 优化和定制扫描参数,以满足最苛刻的研究和行业测量要求。

Aplikacje

AFM模式

扩展您的应用程序与AFM模式

凭借一套无与伦比的成像模式,布鲁克为每一项研究都提供了AFM技术。

建立在核心成像模式的骨干-接触模式和敲击模式-布鲁克提供AFM模式,允许用户探测他们的样品的电,磁,或材料属性。雷竞技网页版Bruker创新的PeakForce tap技术代表了一种新的核心成像范例,该技术已纳入多种模式,可同时提供地形、电气和机械性能数据。

Webinary

Referencje

奖状

听听我们的客户怎么说

我们已经使用Bruker Fastscan AFM两年多了。根据我们的经验,Fastscan成像速度比其他afm快4到5倍,而不会降低分辨率。此外,scanassist模式具有智能自动扫描参数调整,使我们能够轻松快速扫描许多样品。卓越的Fastscan AFM性能提升了我们团队在DNA纳米技术研究方面的声誉。

肖守军博士,南京大学,中国南京

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